Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности

• Veröffentlicht in: Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
• Datum: 2014
• ISSN: 1816-5230
• Hauptverfasser: Грушко, В., Новиков, Н., Чайка, А., Мицкевич, Е., Лысенко, О.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2014
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75952
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры
 поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 1. — С. 81-90. — Бібліогр.: 34 назв. — рос.

Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии
 (СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его...