Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники

В работе рассмотрена возможность создания диэлектрических SiO2 - покрытий на основе золь–гель-метода путём гидролиза металлоорганических соединений кремния в водно-спиртовой смеси. Описаны оптимальные параметры нанесения и термообработки для получения однородных покрытий на поверхности монокриста...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Datum:2014
Hauptverfasser: Васькевич, В.В., Гайшун, В.Е., Коваленко, Д.Л.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2014
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75976
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники / В.В. Васькевич, В.Е. Гайшун, Д.Л. Коваленко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 2. — С. 279-293. — Бібліогр.: 5 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-75976
record_format dspace
spelling Васькевич, В.В.
Гайшун, В.Е.
Коваленко, Д.Л.
2015-02-06T18:26:14Z
2015-02-06T18:26:14Z
2014
Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники / В.В. Васькевич, В.Е. Гайшун, Д.Л. Коваленко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 2. — С. 279-293. — Бібліогр.: 5 назв. — укр.
1816-5230
PACSnumbers:68.37.Ps,68.55.J-,78.30.-j,81.15.Gh,81.20.Fw,81.65.Ps,82.70.Gg
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75976
В работе рассмотрена возможность создания диэлектрических SiO2 - покрытий на основе золь–гель-метода путём гидролиза металлоорганических соединений кремния в водно-спиртовой смеси. Описаны оптимальные параметры нанесения и термообработки для получения однородных покрытий на поверхности монокристаллического кремния. Выполнены исследования механической стойкости к истиранию как основного вида испытания покрытий на прочность и адгезию к поверхности подложки. Методом ИК-спектроскопии изучены фазовые и структурные превращений в процессе формирования золь–гель-плёнок. Методом АСМ установлены зависимости состояния и морфологии поверхности покрытий от состава исходного плёнкообразующего раствора и технологических режимов получения диэлектрических плёнок. Проанализированы электрофизические свойства сформированных МДП-структур в зависимости от состава плёнкообразующего раствора.
У роботі розглянуто можливість створення діелектричних SiO2 -покриттів на основі золь–ґель-методи шляхом гідролізи металоорганічних сполук кремнію у водно-спиртовій суміші. Описано оптимальні параметри нанесення та термооброблення для одержання однорідних покриттів на поверхні монокристалічного кремнію. Виконано дослідження механічної стійкости до стирання як основного виду випробування покриттів на міцність і адгезію до поверхні підложжя. Методою ІЧ-спектроскопії вивчено фазові й структурні перетворення в процесі формування золь-ґель-плівок. Методою АСМ встановлено залежності стану й морфології поверхні покриттів від складу вихідного плівкоутворювального розчину та технологічних режимів одержання діелектричних плівок. Проаналізовано електрофізичні властивості сформованих МДП-структур залежно від складу плівкоутворювального розчину.
The possibility of protective SiO2 coatings based on sol–gel method with hy-drolysis of organometallic compounds of silicon in a water–alcohol mixture is considered. The optimal parameters of application and heat treatment to obtain homogeneous coatings on single-crystalline silicon are described. The studies of mechanical abrasion resistance as the main type of coatings’ testing on strength and adhesion to the substrate surface are performed. Phase and structural transformations during the sol–gel films’ fabrication are studied by IR spectroscopy. Dependences of the coating-surface state and morphology on the original film-forming solution composition and technological modes of dielectric-films’ fabrication are established by AFM method. Electrophysical properties of formed MDS structures depending on the filmforming-solution composition are analysed.
uk
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники
spellingShingle Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники
Васькевич, В.В.
Гайшун, В.Е.
Коваленко, Д.Л.
title_short Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники
title_full Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники
title_fullStr Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники
title_full_unstemmed Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники
title_sort синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники
author Васькевич, В.В.
Гайшун, В.Е.
Коваленко, Д.Л.
author_facet Васькевич, В.В.
Гайшун, В.Е.
Коваленко, Д.Л.
publishDate 2014
language Ukrainian
container_title Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
publisher Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
format Article
description В работе рассмотрена возможность создания диэлектрических SiO2 - покрытий на основе золь–гель-метода путём гидролиза металлоорганических соединений кремния в водно-спиртовой смеси. Описаны оптимальные параметры нанесения и термообработки для получения однородных покрытий на поверхности монокристаллического кремния. Выполнены исследования механической стойкости к истиранию как основного вида испытания покрытий на прочность и адгезию к поверхности подложки. Методом ИК-спектроскопии изучены фазовые и структурные превращений в процессе формирования золь–гель-плёнок. Методом АСМ установлены зависимости состояния и морфологии поверхности покрытий от состава исходного плёнкообразующего раствора и технологических режимов получения диэлектрических плёнок. Проанализированы электрофизические свойства сформированных МДП-структур в зависимости от состава плёнкообразующего раствора. У роботі розглянуто можливість створення діелектричних SiO2 -покриттів на основі золь–ґель-методи шляхом гідролізи металоорганічних сполук кремнію у водно-спиртовій суміші. Описано оптимальні параметри нанесення та термооброблення для одержання однорідних покриттів на поверхні монокристалічного кремнію. Виконано дослідження механічної стійкости до стирання як основного виду випробування покриттів на міцність і адгезію до поверхні підложжя. Методою ІЧ-спектроскопії вивчено фазові й структурні перетворення в процесі формування золь-ґель-плівок. Методою АСМ встановлено залежності стану й морфології поверхні покриттів від складу вихідного плівкоутворювального розчину та технологічних режимів одержання діелектричних плівок. Проаналізовано електрофізичні властивості сформованих МДП-структур залежно від складу плівкоутворювального розчину. The possibility of protective SiO2 coatings based on sol–gel method with hy-drolysis of organometallic compounds of silicon in a water–alcohol mixture is considered. The optimal parameters of application and heat treatment to obtain homogeneous coatings on single-crystalline silicon are described. The studies of mechanical abrasion resistance as the main type of coatings’ testing on strength and adhesion to the substrate surface are performed. Phase and structural transformations during the sol–gel films’ fabrication are studied by IR spectroscopy. Dependences of the coating-surface state and morphology on the original film-forming solution composition and technological modes of dielectric-films’ fabrication are established by AFM method. Electrophysical properties of formed MDS structures depending on the filmforming-solution composition are analysed.
issn 1816-5230
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/75976
citation_txt Синтез и исследование силикатных золь–гель-покрытий для микро- и наноэлектроники / В.В. Васькевич, В.Е. Гайшун, Д.Л. Коваленко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 2. — С. 279-293. — Бібліогр.: 5 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT vasʹkevičvv sinteziissledovaniesilikatnyhzolʹgelʹpokrytiidlâmikroinanoélektroniki
AT gaišunve sinteziissledovaniesilikatnyhzolʹgelʹpokrytiidlâmikroinanoélektroniki
AT kovalenkodl sinteziissledovaniesilikatnyhzolʹgelʹpokrytiidlâmikroinanoélektroniki
first_indexed 2025-12-07T15:25:31Z
last_indexed 2025-12-07T15:25:31Z
_version_ 1850863655853228032