Особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії
На прикладі реальних наноструктурованих поверхонь проаналізовано характерні особливості застосування метод мінімізації «ефекту зонду» в топометричних дослідженнях методою сканівної атомно-силової мікроскопії
 (АСМ). Подано практичні параметри оцінки ефективности комп’ютерної
 реконст...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
|---|---|
| Datum: | 2008 |
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2008
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76014 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Особливості топометрії наноструктур
 методою атомно-силової мікроскопії / О.С. Литвин, П.М. Литвин, І.В. Прокопенко, Т.І. Шеремета // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2008. — Т. 6, № 1. — С. 33-44. — Бібліогр.: 32 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862667607827546112 |
|---|---|
| author | Литвин, О.С. Литвин, П.М. Прокопенко, І.В. Шеремета, Т.І. |
| author_facet | Литвин, О.С. Литвин, П.М. Прокопенко, І.В. Шеремета, Т.І. |
| citation_txt | Особливості топометрії наноструктур
 методою атомно-силової мікроскопії / О.С. Литвин, П.М. Литвин, І.В. Прокопенко, Т.І. Шеремета // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2008. — Т. 6, № 1. — С. 33-44. — Бібліогр.: 32 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| description | На прикладі реальних наноструктурованих поверхонь проаналізовано характерні особливості застосування метод мінімізації «ефекту зонду» в топометричних дослідженнях методою сканівної атомно-силової мікроскопії
(АСМ). Подано практичні параметри оцінки ефективности комп’ютерної
реконструкції зображень поверхні та її оптимізації. Показано, що комплексне застосування ріжних способів мінімізації спотворень геометричних
розмірів наноструктурних елементів поверхонь, які виникають внаслідок
скінченности розмірів вістря зонду, забезпечує одержання адекватних топометричних даних.
Peculiarities of ‘tip effect’ minimization techniques’ usage in topometric investigations
using scanning atomic force microscopy are analyzed using real
nanostructured surfaces as examples. Practical parameters for the computer
surface-image reconstruction efficiency evaluation and optimization are presented.
As shown, the combined use of various techniques for minimization
of distortions in geometrical sizes of surface nanostructures caused by finite
tip sizes provides adequate topometric data.
В работе на примере реальных наноструктурированных поверхностей проанализированы особенности применения методов минимизации «эффекта
зонда» в топометрических исследованиях методом сканирующей атомносиловой микроскопии (АСМ). Представлены практические параметры оценки эффективности компьютерной реконструкции изображений поверхности
и ее оптимизации. Показано, что комплексное применение разных способов
минимизации искажений геометрических размеров наноструктурных элементов поверхностей, которые возникают вследствие конечных размеров острия зонда, обеспечивает получение адекватных топометрических данных.
|
| first_indexed | 2025-12-07T15:23:04Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-76014 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1816-5230 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-12-07T15:23:04Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Литвин, О.С. Литвин, П.М. Прокопенко, І.В. Шеремета, Т.І. 2015-02-07T12:31:26Z 2015-02-07T12:31:26Z 2008 Особливості топометрії наноструктур
 методою атомно-силової мікроскопії / О.С. Литвин, П.М. Литвин, І.В. Прокопенко, Т.І. Шеремета // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2008. — Т. 6, № 1. — С. 33-44. — Бібліогр.: 32 назв. — укр. 1816-5230 PACS numbers :07.79.Lh,61.46.-w,68.37.Ps,68.65.-k,81.07.-b,81.16.Ta,82.37.Gk https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76014 На прикладі реальних наноструктурованих поверхонь проаналізовано характерні особливості застосування метод мінімізації «ефекту зонду» в топометричних дослідженнях методою сканівної атомно-силової мікроскопії
 (АСМ). Подано практичні параметри оцінки ефективности комп’ютерної
 реконструкції зображень поверхні та її оптимізації. Показано, що комплексне застосування ріжних способів мінімізації спотворень геометричних
 розмірів наноструктурних елементів поверхонь, які виникають внаслідок
 скінченности розмірів вістря зонду, забезпечує одержання адекватних топометричних даних. Peculiarities of ‘tip effect’ minimization techniques’ usage in topometric investigations
 using scanning atomic force microscopy are analyzed using real
 nanostructured surfaces as examples. Practical parameters for the computer
 surface-image reconstruction efficiency evaluation and optimization are presented.
 As shown, the combined use of various techniques for minimization
 of distortions in geometrical sizes of surface nanostructures caused by finite
 tip sizes provides adequate topometric data. В работе на примере реальных наноструктурированных поверхностей проанализированы особенности применения методов минимизации «эффекта
 зонда» в топометрических исследованиях методом сканирующей атомносиловой микроскопии (АСМ). Представлены практические параметры оценки эффективности компьютерной реконструкции изображений поверхности
 и ее оптимизации. Показано, что комплексное применение разных способов
 минимизации искажений геометрических размеров наноструктурных элементов поверхностей, которые возникают вследствие конечных размеров острия зонда, обеспечивает получение адекватных топометрических данных. Роботу виконано за підтримки Міністерства освіти та науки України (грант № М/175-2007). uk Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії Peculiarities of Nanostructures Topometry Studied by Atomic Force Microscopy Methods Article published earlier |
| spellingShingle | Особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії Литвин, О.С. Литвин, П.М. Прокопенко, І.В. Шеремета, Т.І. |
| title | Особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії |
| title_alt | Peculiarities of Nanostructures Topometry Studied by Atomic Force Microscopy Methods |
| title_full | Особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії |
| title_fullStr | Особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії |
| title_full_unstemmed | Особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії |
| title_short | Особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії |
| title_sort | особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76014 |
| work_keys_str_mv | AT litvinos osoblivostítopometríínanostrukturmetodoûatomnosilovoímíkroskopíí AT litvinpm osoblivostítopometríínanostrukturmetodoûatomnosilovoímíkroskopíí AT prokopenkoív osoblivostítopometríínanostrukturmetodoûatomnosilovoímíkroskopíí AT šeremetatí osoblivostítopometríínanostrukturmetodoûatomnosilovoímíkroskopíí AT litvinos peculiaritiesofnanostructurestopometrystudiedbyatomicforcemicroscopymethods AT litvinpm peculiaritiesofnanostructurestopometrystudiedbyatomicforcemicroscopymethods AT prokopenkoív peculiaritiesofnanostructurestopometrystudiedbyatomicforcemicroscopymethods AT šeremetatí peculiaritiesofnanostructurestopometrystudiedbyatomicforcemicroscopymethods |