Реальность оценок размеров пятен на поверхностях астероидов, сделанных спектрально-частотным методом

Кратко описан новый спектрально-частотный метод (СЧМ) исследований поверхностей безатмосферных тел, позволяющий оценивать размеры пятен различной природы. Коротко описано новий спектрально-частотний метод (СЧМ) досліджень поверхонь без атмосферних тіл, що дозволяє оцінювати розміри плям різної прир...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Кинематика и физика небесных тел
Datum:2011
Hauptverfasser: Прокофьева-Михайловская, В.В., Бусарев, В.В., Горькавый, Н.Н., Рублевский, А.Н.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Головна астрономічна обсерваторія НАН України 2011
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76041
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Реальность оценок размеров пятен на поверхностях астероидов, сделанных спектрально-частотным методом / В.В. Прокофьева-Михайловская, В.В. Бусарев, Н.Н. Горькавый, А.Н. Рублевский // Кинематика и физика небесных тел. — 2011. — Т. 27, № 6. — С. 31-43. — Бібліогр.: 33 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Кратко описан новый спектрально-частотный метод (СЧМ) исследований поверхностей безатмосферных тел, позволяющий оценивать размеры пятен различной природы. Коротко описано новий спектрально-частотний метод (СЧМ) досліджень поверхонь без атмосферних тіл, що дозволяє оцінювати розміри плям різної природи. A new spectral-frequency method (SFM) for the study of solid body surfaces is briefly described.
ISSN:0233-7665