Анізотропний модель динамічної трикристальної Ляве-дифрактометрії структурної досконалости кристалічних виробів нанотехнологій. І. Когерентна складова динамічної картини розсіяння

• Опубліковано в: : Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
• Дата: 2008
• Автори: Молодкін, В.Б., Оліховський, С.Й., Шелудченко, Б.В., Лень, Є.Г., Когут, М.Т.
• Формат: Стаття
• Мова: Ukrainian
• Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2008
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76087
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Анізотропний модель динамічної трикристальної Ляве-дифрактометрії структурної досконалости кристалічних виробів нанотехнологій. І. Когерентна складова динамічної картини розсіяння / В.Б. Молодкін, С.Й. Оліховський, Б.В. Шелудченко, Є.Г. Лень, М.Т. Когут // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2008. — Т. 6, № 3. — С. 785-806. — Бібліогр.: 23 назв. — укр.

В рамках динамічної теорії розсіяння Рентґенових променів у недосконалих кристалах розглянуто випадок геометрії дифракції за Ляве без обмежень на розміри дефектів. Одержано аналітичні вирази для когерентних компонент коефіцієнтів проходження і відбиття для кристалів з однорідно розподіленими дефект...