Міжфазові взаємодії та електрична провідність в композитах вуглецеві нанорурки/рідкий кристал

Методами ДСК, ІЧ-спектроскопії та міряння електропровідности досліджено поведінку багатошарових вуглецевих нанорурок (НР), дисперґованих у мезогенній матриці (ЕББА). Результати свідчать про наявність сильної інтеґрації між НР і ЕББА в інтервалі концентрацій НР між 0,05 і
 1% мас. Втілення НР...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Datum:2009
Hauptverfasser: Лебовка, М., Гончарук, А., Бойко, Ю., Лисецький, Л., Пучковська, Г., Гаврилко, Т., Баран, Я., Дрозд, М.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainisch
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2009
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/76534
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Міжфазові взаємодії та електрична провідність
 в композитах вуглецеві нанорурки/рідкий кристал / М. Лебовка, А. Гончарук, Ю. Бойко, Л. Лисецький, Г. Пучковська,
 Т. Гаврилко, Я. Баран, М. Дрозд // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 3. — С. 701-715. — Бібліогр.: 38 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Методами ДСК, ІЧ-спектроскопії та міряння електропровідности досліджено поведінку багатошарових вуглецевих нанорурок (НР), дисперґованих у мезогенній матриці (ЕББА). Результати свідчать про наявність сильної інтеґрації між НР і ЕББА в інтервалі концентрацій НР між 0,05 і
 1% мас. Втілення НР в ЕББА призводить до підвищення температур фазових переходів як з нематичної до ізотропної, так і з кристалічної до нематичної фази. Дані ІЧ-спектроскопії свідчать про підвищення енергії
 міжфазової взаємодії при підвищенні концентрації НР. Дані з електричної провідности підтверджують присутність перколяційного переходу за
 концентрацій НР, вищих за 0,05—0,1% мас. Нелінійні залежності електричної провідности від прикладеної напруги свідчать про важливість
 стрибкового механізму транспорту заряду та наявність широкого розподілу значень висоти стрибкових бар’єрів. Behaviour of the multiwall carbon nanotubes (NT) dispersed inside the
 mesogene matrix (EBBA) is studied by DSC, IR spectroscopy, and electrical
 conductivity measurements. The results show the presence of strong integration
 of NTs in EBBA within the range of NT concentrations from 0.05 to 1
 wt.%. Incorporation of NTs into EBBA increases the temperature of both
 nematic—isotropic and crystal—nematic transitions. IR data point to the in-crease of the energy of interface interaction with NTs concentration. Electrical-conductivity
 data demonstrate existence of the percolation threshold at
 NT concentrations exceeding 0.05—0.1 wt.%. The observed nonlinear dependences
 of electrical conductivity on the applied voltage and frequency
 bear witness to importance of the hopping mechanism of carrier transport
 and presence of wide distribution of the hopping-barriers heights. Методами ДСК, ИК-спектроскопии и измерения электропроводности исследовано поведение многослойных углеродных нанотрубок (НТ), диспергированных в мезогенной матрице (ЭББА). Результаты свидетельствуют о наличии сильной интеграции между НТ и ЭББА в интервале концентраций НТ
 между 0,05 и 1% мас. Внедрение НТ в ЭББА приводит к повышению температур фазовых переходов как из нематической в изотропную, так и из кристаллической в нематическую фазу. Данные ИК-спектроскопии свидетельствуют об увеличении энергии межфазовых взаимодействий при повышении
 концентрации НТ. Данные по электрической проводимости подтверждают
 присутствие перколяционного перехода при концентрациях НТ выше 0,05—
 0,1% мас. Наблюдаемые нелинейные зависимости электрической проводимости от приложенного напряжения и частоты свидетельствуют о важности
 прыжкового механизма транспорта заряда и наличии широкого распределения значений высоты прыжковых барьеров.
ISSN:1816-5230