СТМ-анализы поверхностной структуры графита, подвергнутого импульсному облучению осколками деления

• Опубліковано в: : Вопросы атомной науки и техники
• Дата: 2000
• Автори: Козодаев, М.А., Макеев, О.Н., Бабаев, В.П., Суворов, А.Л., Хохряков, В.Ф., Осадчук, Л.А., Леваков, Б.Г., Залужный, А.Г.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2000
• Теми: Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78141
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: СТМ-анализы поверхностной структуры графита, подвергнутого импульсному облучению осколками деления / М.А. Козодаев, О.Н. Макеев, В.П. Бабаев, А.Л. Суворов, В.Ф. Хохряков, Л.А. Осадчук, Б.Г. Леваков, А.Г. Залужный // Вопросы атомной науки и техники. — 2000. — № 4. — С. 31-33. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Разработана методика облучения конструкционных материалов осколками деления в растворных импульсных ядерных реакторах. С помощью метода сканирующей туннельной микроскопии проведены исследования структуры поверхности высокоориентированного пиролитического графита (ВОПГ), подвергнутого импульсному обл...