Исследование радиационной стойкости детекторов ионизирующих излучений на основе CdTe и CdZnTe

• Veröffentlicht in: Вопросы атомной науки и техники
• Datum: 2000
• Hauptverfasser: Кутний, В.Е., Рыбка, А.В., Прохорец, И.М., Давыдов, Л.Н., Абызов, А.С., Довбня, А.Н., Карасев, С.П., Уваров, В.Л., Шляхов, И.Н.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2000
• Schlagworte: Облучательная техника, ядерно-физические методы исследования структуры и свойств твердых тел
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78200
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Исследование радиационной стойкости детекторов ионизирующих излучений на основе CdTe и CdZnTe / В.Е. Кутний, А.В. Рыбка, И.М. Прохорец, Л.Н. Давыдов, А.С. Абызов, А.Н. Довбня, С.П. Карасев, В.Л. Уваров, И.Н. Шляхов // Вопросы атомной науки и техники. — 2000. — № 4. — С. 212-214. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

В полупроводниковых детекторах ионизирующих излучений в процессе их эксплуатации создаются радиационные повреждения, которые ухудшают свойства приборов и могут вывести их из строя. В спектрометрах ухудшается энергетическое разрешение, увеличивается ток утечки, положение фотопика сдвигается в сторону...