Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела

Разработан новый метод статистического моделирования процесса малоуглового отражения заряженных частиц от поверхности твердого тела. В отличие от моделирования отражения на микроскопическом уровне атомных столкновений метод рассматривает его макроскопически как результат “укрупненного” столкновения...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2001
Автори: Дюльдя, С.В., Братченко, М.И.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2001
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78276
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела / С.В. Дюльдя, М.И. Братченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2001. — № 4. — С. 53-56. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-78276
record_format dspace
spelling Дюльдя, С.В.
Братченко, М.И.
2015-03-13T17:41:36Z
2015-03-13T17:41:36Z
2001
Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела / С.В. Дюльдя, М.И. Братченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2001. — № 4. — С. 53-56. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.
1562-6016
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78276
537.534
Разработан новый метод статистического моделирования процесса малоуглового отражения заряженных частиц от поверхности твердого тела. В отличие от моделирования отражения на микроскопическом уровне атомных столкновений метод рассматривает его макроскопически как результат “укрупненного” столкновения частиц с поверхностью. Статистические характеристики отражения определяются путем выборки из теоретических распределений по энергии и углам. Предложен и протестирован эффективный алгоритм выборки, основанный на комбинации метода обратных функций распределения и метода отбора. В качестве примера применения приведены результаты статистического моделирования эффекта усиления потока ионов у подножия вертикального конуса Венера, которые сравниваются с результатами простой геометрической модели зеркального отражения.
Розроблений новий метод статистичного моделювання малокутового відбиття заряджених частинок від поверхні твердого тіла. На відміну від моделювання відбиття на мікроскопічному рівні атомних зіткнень, метод розглядає його макроскопічно як результат “укрупненого” зіткнення частинок з поверхнею. Статистичні характеристики відбиття визначаються шляхом вибірки з теоретичних кутових та енергетичних розподілів. Запропонований та протестований ефективний алгоритм вибірки, що базується на комбінації методу зворотних функцій розподілу та методу відбору. В якості прикладу застосування наведені результати статистичного моделювання ефекту посилення потоку іонів біля підніжжя вертикального конуса Венера в порівнянні з результатами простої геометричної моделі дзеркального відбиття.
A novel method of Monte Carlo simulation of small-angle reflection of charged particles from solid surfaces has been developed. Instead of atomic-scale simulation of particle-surface collisions the method treats the reflection macroscopically as “condensed history” event. Statistical parameters of reflection are sampled from the theoretical distributions upon energy and angles. An efficient sampling algorithm based on combination of inverse probability distribution function method and rejection method has been proposed and tested. As an example of application the results of statistical modeling of particles flux enhancement near the bottom of vertical Wehner cone are presented and compared with simple geometrical model of specular reflection.
ru
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела
spellingShingle Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела
Дюльдя, С.В.
Братченко, М.И.
Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
title_short Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела
title_full Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела
title_fullStr Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела
title_full_unstemmed Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела
title_sort метод монте-карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела
author Дюльдя, С.В.
Братченко, М.И.
author_facet Дюльдя, С.В.
Братченко, М.И.
topic Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
topic_facet Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
publishDate 2001
language Russian
container_title Вопросы атомной науки и техники
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
format Article
description Разработан новый метод статистического моделирования процесса малоуглового отражения заряженных частиц от поверхности твердого тела. В отличие от моделирования отражения на микроскопическом уровне атомных столкновений метод рассматривает его макроскопически как результат “укрупненного” столкновения частиц с поверхностью. Статистические характеристики отражения определяются путем выборки из теоретических распределений по энергии и углам. Предложен и протестирован эффективный алгоритм выборки, основанный на комбинации метода обратных функций распределения и метода отбора. В качестве примера применения приведены результаты статистического моделирования эффекта усиления потока ионов у подножия вертикального конуса Венера, которые сравниваются с результатами простой геометрической модели зеркального отражения. Розроблений новий метод статистичного моделювання малокутового відбиття заряджених частинок від поверхні твердого тіла. На відміну від моделювання відбиття на мікроскопічному рівні атомних зіткнень, метод розглядає його макроскопічно як результат “укрупненого” зіткнення частинок з поверхнею. Статистичні характеристики відбиття визначаються шляхом вибірки з теоретичних кутових та енергетичних розподілів. Запропонований та протестований ефективний алгоритм вибірки, що базується на комбінації методу зворотних функцій розподілу та методу відбору. В якості прикладу застосування наведені результати статистичного моделювання ефекту посилення потоку іонів біля підніжжя вертикального конуса Венера в порівнянні з результатами простої геометричної моделі дзеркального відбиття. A novel method of Monte Carlo simulation of small-angle reflection of charged particles from solid surfaces has been developed. Instead of atomic-scale simulation of particle-surface collisions the method treats the reflection macroscopically as “condensed history” event. Statistical parameters of reflection are sampled from the theoretical distributions upon energy and angles. An efficient sampling algorithm based on combination of inverse probability distribution function method and rejection method has been proposed and tested. As an example of application the results of statistical modeling of particles flux enhancement near the bottom of vertical Wehner cone are presented and compared with simple geometrical model of specular reflection.
issn 1562-6016
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78276
citation_txt Метод Монте-Карло макроскопического моделирования малоуглового отражения бытрых заряженных частиц от поверхности твердого тела / С.В. Дюльдя, М.И. Братченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2001. — № 4. — С. 53-56. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT dûlʹdâsv metodmontekarlomakroskopičeskogomodelirovaniâmalouglovogootraženiâbytryhzarâžennyhčasticotpoverhnostitverdogotela
AT bratčenkomi metodmontekarlomakroskopičeskogomodelirovaniâmalouglovogootraženiâbytryhzarâžennyhčasticotpoverhnostitverdogotela
first_indexed 2025-12-07T17:11:57Z
last_indexed 2025-12-07T17:11:57Z
_version_ 1850870352329048064