Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов

В работе представлены результаты новых исследований по созданию защитных оксидных покрытий на основе Al2O3(Si, Mn) на сплавах алюминия с помощью электролитно-плазменного оксидирования. Анализ, проведенный с помощью растровой электронной микроскопии SEM с EDS (энергодисперсным микроанализом), рентген...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2008
Hauptverfasser: Погребняк, А.Д., Кылышканов, М.К., Братушка, С.Н., Плотников, С.В., Понарядов, В.В., Тюрин, Ю.Н., Шипиленко, А.П.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2008
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7858
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов / А.Д. Погребняк, М.К. Кылышканов, С.Н. Братушка, С.В. Плотников, В.В. Понарядов, Ю.Н. Тюрин, А.П. Шипиленко // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 1-2. — С. 43-50. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-7858
record_format dspace
spelling Погребняк, А.Д.
Кылышканов, М.К.
Братушка, С.Н.
Плотников, С.В.
Понарядов, В.В.
Тюрин, Ю.Н.
Шипиленко, А.П.
2010-04-19T14:39:34Z
2010-04-19T14:39:34Z
2008
Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов / А.Д. Погребняк, М.К. Кылышканов, С.Н. Братушка, С.В. Плотников, В.В. Понарядов, Ю.Н. Тюрин, А.П. Шипиленко // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 1-2. — С. 43-50. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.
1999-8074
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7858
621.793:539.61
В работе представлены результаты новых исследований по созданию защитных оксидных покрытий на основе Al2O3(Si, Mn) на сплавах алюминия с помощью электролитно-плазменного оксидирования. Анализ, проведенный с помощью растровой электронной микроскопии SEM с EDS (энергодисперсным микроанализом), рентгено-фазового анализа (XRD), резерфордовского обратного рассеяния ионов (RBS) ионов 4He+ и протонов, показал, что формируются хорошего качества покрытия с высокой твердостью и стойкостью к износу, а также малой температуропроводности. Показано, что наряду с Al2O3, в покрытии находятся Si, Mn, C и Ca. Определена стехиометрия данного покрытия. Плотность и твердость покрытия близка по значениям к α-фазе Al2O3 в покрытии на подложке D-16, а на покрытии, осажденном на подложке S006, в 1,5 раза меньше.
У роботі представлені результати нових досліджень по створенню захисних оксидних покриттів на основі Al2O3(Si, Mn) на сплавах алюмінію за допомогою електролітно-плазмового оксидування. Аналіз, який проведений за допомогою растрової електронної мікроскопії SEM з EDS (енергодисперсним мікроаналізом), рентгенофазового аналізу (XRD), резерфордівського зворотного розсіювання іонів (RBS) іонів 4He+ і протонів показав, що формуються гарної якості покриття з високою твердістю й стійкістю до зношування, а також малої температуропровідності. Показано, що поряд з Al2O3 у покритті перебуває Si, Mn, C і Ca. Визначено стехіометрію даного покриття. Щільність і твердість покриття близька за значеннями до α-фази Al2O3 у покритті на підкладинці D-16, а на покритті, осадженому на підкадинці S006, в 1,5 рази менше.
The work presents new investigation results on production of protecting oxide coatings on the base of Al2O3 (Si, Mn) on aluminum alloys using an electrolyteplasma oxidation. Scanning electron microscopy analysis SEM with EDS, X-ray phase analysis XRD, Rutherford ion back-scattering (RBS) of 4He+ ions and protons demonstrated the formation of goodquality coatings with high hardness, wear resistance and low temperature conductivity. Also it was demonstrated that together with Al and O the coating contained Si, Mn, C and Ca. The stoichiometry of the coating was determined. Values of its hardness and density were close to α-phase Al2O3 for the coating on D-16 substrate and by 1.5 times lower on the substrate S006. Together with α-Al2O3 phases we found SiC, and SiO2 in both types of coatings, but their bulk fraction differed.
ru
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов
Структура та властивості оксидних покриттів, отриманих електролітно-плазмовим оксидуванням на підложці з Al-Cu і Al-Mg сплавів
Structure and properties of oxyde coatings on substrates of Al-Cu and Al-Mg alloys manufactured using electrolyte-plasma oxidation
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов
spellingShingle Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов
Погребняк, А.Д.
Кылышканов, М.К.
Братушка, С.Н.
Плотников, С.В.
Понарядов, В.В.
Тюрин, Ю.Н.
Шипиленко, А.П.
title_short Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов
title_full Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов
title_fullStr Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов
title_full_unstemmed Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов
title_sort структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из al-cu и al-mg сплавов
author Погребняк, А.Д.
Кылышканов, М.К.
Братушка, С.Н.
Плотников, С.В.
Понарядов, В.В.
Тюрин, Ю.Н.
Шипиленко, А.П.
author_facet Погребняк, А.Д.
Кылышканов, М.К.
Братушка, С.Н.
Плотников, С.В.
Понарядов, В.В.
Тюрин, Ю.Н.
Шипиленко, А.П.
publishDate 2008
language Russian
publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
format Article
title_alt Структура та властивості оксидних покриттів, отриманих електролітно-плазмовим оксидуванням на підложці з Al-Cu і Al-Mg сплавів
Structure and properties of oxyde coatings on substrates of Al-Cu and Al-Mg alloys manufactured using electrolyte-plasma oxidation
description В работе представлены результаты новых исследований по созданию защитных оксидных покрытий на основе Al2O3(Si, Mn) на сплавах алюминия с помощью электролитно-плазменного оксидирования. Анализ, проведенный с помощью растровой электронной микроскопии SEM с EDS (энергодисперсным микроанализом), рентгено-фазового анализа (XRD), резерфордовского обратного рассеяния ионов (RBS) ионов 4He+ и протонов, показал, что формируются хорошего качества покрытия с высокой твердостью и стойкостью к износу, а также малой температуропроводности. Показано, что наряду с Al2O3, в покрытии находятся Si, Mn, C и Ca. Определена стехиометрия данного покрытия. Плотность и твердость покрытия близка по значениям к α-фазе Al2O3 в покрытии на подложке D-16, а на покрытии, осажденном на подложке S006, в 1,5 раза меньше. У роботі представлені результати нових досліджень по створенню захисних оксидних покриттів на основі Al2O3(Si, Mn) на сплавах алюмінію за допомогою електролітно-плазмового оксидування. Аналіз, який проведений за допомогою растрової електронної мікроскопії SEM з EDS (енергодисперсним мікроаналізом), рентгенофазового аналізу (XRD), резерфордівського зворотного розсіювання іонів (RBS) іонів 4He+ і протонів показав, що формуються гарної якості покриття з високою твердістю й стійкістю до зношування, а також малої температуропровідності. Показано, що поряд з Al2O3 у покритті перебуває Si, Mn, C і Ca. Визначено стехіометрію даного покриття. Щільність і твердість покриття близька за значеннями до α-фази Al2O3 у покритті на підкладинці D-16, а на покритті, осадженому на підкадинці S006, в 1,5 рази менше. The work presents new investigation results on production of protecting oxide coatings on the base of Al2O3 (Si, Mn) on aluminum alloys using an electrolyteplasma oxidation. Scanning electron microscopy analysis SEM with EDS, X-ray phase analysis XRD, Rutherford ion back-scattering (RBS) of 4He+ ions and protons demonstrated the formation of goodquality coatings with high hardness, wear resistance and low temperature conductivity. Also it was demonstrated that together with Al and O the coating contained Si, Mn, C and Ca. The stoichiometry of the coating was determined. Values of its hardness and density were close to α-phase Al2O3 for the coating on D-16 substrate and by 1.5 times lower on the substrate S006. Together with α-Al2O3 phases we found SiC, and SiO2 in both types of coatings, but their bulk fraction differed.
issn 1999-8074
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7858
citation_txt Структура и свойства оксидных покрытий, полученных электролитно-плазменным оксидированием на под-ложке из Al-Cu и Al-Mg сплавов / А.Д. Погребняк, М.К. Кылышканов, С.Н. Братушка, С.В. Плотников, В.В. Понарядов, Ю.Н. Тюрин, А.П. Шипиленко // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 1-2. — С. 43-50. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT pogrebnâkad strukturaisvoistvaoksidnyhpokrytiipolučennyhélektrolitnoplazmennymoksidirovaniemnapodložkeizalcuialmgsplavov
AT kylyškanovmk strukturaisvoistvaoksidnyhpokrytiipolučennyhélektrolitnoplazmennymoksidirovaniemnapodložkeizalcuialmgsplavov
AT bratuškasn strukturaisvoistvaoksidnyhpokrytiipolučennyhélektrolitnoplazmennymoksidirovaniemnapodložkeizalcuialmgsplavov
AT plotnikovsv strukturaisvoistvaoksidnyhpokrytiipolučennyhélektrolitnoplazmennymoksidirovaniemnapodložkeizalcuialmgsplavov
AT ponarâdovvv strukturaisvoistvaoksidnyhpokrytiipolučennyhélektrolitnoplazmennymoksidirovaniemnapodložkeizalcuialmgsplavov
AT tûrinûn strukturaisvoistvaoksidnyhpokrytiipolučennyhélektrolitnoplazmennymoksidirovaniemnapodložkeizalcuialmgsplavov
AT šipilenkoap strukturaisvoistvaoksidnyhpokrytiipolučennyhélektrolitnoplazmennymoksidirovaniemnapodložkeizalcuialmgsplavov
AT pogrebnâkad strukturatavlastivostíoksidnihpokrittívotrimanihelektrolítnoplazmovimoksiduvannâmnapídložcízalcuíalmgsplavív
AT kylyškanovmk strukturatavlastivostíoksidnihpokrittívotrimanihelektrolítnoplazmovimoksiduvannâmnapídložcízalcuíalmgsplavív
AT bratuškasn strukturatavlastivostíoksidnihpokrittívotrimanihelektrolítnoplazmovimoksiduvannâmnapídložcízalcuíalmgsplavív
AT plotnikovsv strukturatavlastivostíoksidnihpokrittívotrimanihelektrolítnoplazmovimoksiduvannâmnapídložcízalcuíalmgsplavív
AT ponarâdovvv strukturatavlastivostíoksidnihpokrittívotrimanihelektrolítnoplazmovimoksiduvannâmnapídložcízalcuíalmgsplavív
AT tûrinûn strukturatavlastivostíoksidnihpokrittívotrimanihelektrolítnoplazmovimoksiduvannâmnapídložcízalcuíalmgsplavív
AT šipilenkoap strukturatavlastivostíoksidnihpokrittívotrimanihelektrolítnoplazmovimoksiduvannâmnapídložcízalcuíalmgsplavív
AT pogrebnâkad structureandpropertiesofoxydecoatingsonsubstratesofalcuandalmgalloysmanufacturedusingelectrolyteplasmaoxidation
AT kylyškanovmk structureandpropertiesofoxydecoatingsonsubstratesofalcuandalmgalloysmanufacturedusingelectrolyteplasmaoxidation
AT bratuškasn structureandpropertiesofoxydecoatingsonsubstratesofalcuandalmgalloysmanufacturedusingelectrolyteplasmaoxidation
AT plotnikovsv structureandpropertiesofoxydecoatingsonsubstratesofalcuandalmgalloysmanufacturedusingelectrolyteplasmaoxidation
AT ponarâdovvv structureandpropertiesofoxydecoatingsonsubstratesofalcuandalmgalloysmanufacturedusingelectrolyteplasmaoxidation
AT tûrinûn structureandpropertiesofoxydecoatingsonsubstratesofalcuandalmgalloysmanufacturedusingelectrolyteplasmaoxidation
AT šipilenkoap structureandpropertiesofoxydecoatingsonsubstratesofalcuandalmgalloysmanufacturedusingelectrolyteplasmaoxidation
first_indexed 2025-12-07T21:14:29Z
last_indexed 2025-12-07T21:14:29Z
_version_ 1850885610855727104