Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”
We present a combination of an atomic force microscopy with a quartz-crystal tuning fork in ambient conditions. A silicon cantilever tip was attached to one prong of the tuning fork to realize shear-force and intermittent contact mode Fork-AFM operation. By electronically adjusting the quality facto...
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2008
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7881 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” / Vo Thanh Tung, S.A. Chizhik, V.V. Chikunov, Tran Xuan Hoai // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 210-215. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862732043675238400 |
|---|---|
| author | Vo Thanh Tung Chizhik, S.A. Chikunov, V.V. Tran Xuan Hoai |
| author_facet | Vo Thanh Tung Chizhik, S.A. Chikunov, V.V. Tran Xuan Hoai |
| citation_txt | Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” / Vo Thanh Tung, S.A. Chizhik, V.V. Chikunov, Tran Xuan Hoai // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 210-215. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| description | We present a combination of an atomic force microscopy with a quartz-crystal tuning fork in ambient conditions. A silicon cantilever tip was attached to one prong of the tuning fork to realize shear-force and intermittent contact mode Fork-AFM operation. By electronically adjusting the quality factor of the probe, called Q-control, it was possible to tune the quality factor Q and correspondingly change the overall scanning time. It was also seen that tuning fork with low quality factors could increase stability with the changed signal and so improve the imaging resolution. Measurements on the different samples were used to demonstrate this technique.
У роботі описується конструкція атомносилового мікроскопа c датчиком у вигляді камертона на основі кварцового кристала. Кремнієве кантилеверне вістря було закріплено до зубця камертона таким чином, що дозволило реалізувати для камертонового АСМ латерально-силовой (shear-force) і напівконтактний (іntermіttent contact) режими. За допомогою системи електронного регулювання добротності зонда, так називаного Q-контролю, можливе настроювання параметра добротності Q і, відповідно, зміна повного часу сканування. Було помічено, що шляхом зменшення параметра добротності можна збільшити стабільність вимірюваного сигналу й у такий спосіб поліпшити розподіл для формованих зображень. Для демонстрації методики використовувалися зразки різних типів.
В работе описывается конструкция атомносилового микроскопа c датчиком в виде камертона на основе кварцевого кристалла. Кремниевое кантилеверное острие было закреплено к зубцу камертона таким образом, что позволило реализовать для камертонного АСМ латерально-силовой (shear-force) и полуконтактный (intermittent contact) режимы. С помощью системы электронного регулирования добротности зонда, так называемого Q-контроля, возможна настройка параметра добротности Q и соответственно изменение полного времени сканирования. Было замечено, что путем уменьшения параметра добротности можно увеличить стабильность измеряемого сигнала и таким образом улучшить разрешение для формируемых изображений. Для демонстрации методики использовались образцы различных типов.
|
| first_indexed | 2025-12-07T19:29:16Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-7881 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1999-8074 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T19:29:16Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Vo Thanh Tung Chizhik, S.A. Chikunov, V.V. Tran Xuan Hoai 2010-04-20T12:54:20Z 2010-04-20T12:54:20Z 2008 Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” / Vo Thanh Tung, S.A. Chizhik, V.V. Chikunov, Tran Xuan Hoai // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 210-215. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. 1999-8074 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7881 681.2:515.16 We present a combination of an atomic force microscopy with a quartz-crystal tuning fork in ambient conditions. A silicon cantilever tip was attached to one prong of the tuning fork to realize shear-force and intermittent contact mode Fork-AFM operation. By electronically adjusting the quality factor of the probe, called Q-control, it was possible to tune the quality factor Q and correspondingly change the overall scanning time. It was also seen that tuning fork with low quality factors could increase stability with the changed signal and so improve the imaging resolution. Measurements on the different samples were used to demonstrate this technique. У роботі описується конструкція атомносилового мікроскопа c датчиком у вигляді камертона на основі кварцового кристала. Кремнієве кантилеверне вістря було закріплено до зубця камертона таким чином, що дозволило реалізувати для камертонового АСМ латерально-силовой (shear-force) і напівконтактний (іntermіttent contact) режими. За допомогою системи електронного регулювання добротності зонда, так називаного Q-контролю, можливе настроювання параметра добротності Q і, відповідно, зміна повного часу сканування. Було помічено, що шляхом зменшення параметра добротності можна збільшити стабільність вимірюваного сигналу й у такий спосіб поліпшити розподіл для формованих зображень. Для демонстрації методики використовувалися зразки різних типів. В работе описывается конструкция атомносилового микроскопа c датчиком в виде камертона на основе кварцевого кристалла. Кремниевое кантилеверное острие было закреплено к зубцу камертона таким образом, что позволило реализовать для камертонного АСМ латерально-силовой (shear-force) и полуконтактный (intermittent contact) режимы. С помощью системы электронного регулирования добротности зонда, так называемого Q-контроля, возможна настройка параметра добротности Q и соответственно изменение полного времени сканирования. Было замечено, что путем уменьшения параметра добротности можно увеличить стабильность измеряемого сигнала и таким образом улучшить разрешение для формируемых изображений. Для демонстрации методики использовались образцы различных типов. en Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” Атомно-силова мікроскопія поверхонь за допомогою кварцового камертонного датчика в “латерально-силовому” і “напівконтактному” режимах Атомно-силовая микроскопия поверхностей с помощью кварцевого камертонного датчика в “латерально-силовом” и “полуконтактном” режимах Article published earlier |
| spellingShingle | Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” Vo Thanh Tung Chizhik, S.A. Chikunov, V.V. Tran Xuan Hoai |
| title | Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” |
| title_alt | Атомно-силова мікроскопія поверхонь за допомогою кварцового камертонного датчика в “латерально-силовому” і “напівконтактному” режимах Атомно-силовая микроскопия поверхностей с помощью кварцевого камертонного датчика в “латерально-силовом” и “полуконтактном” режимах |
| title_full | Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” |
| title_fullStr | Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” |
| title_full_unstemmed | Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” |
| title_short | Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” |
| title_sort | investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7881 |
| work_keys_str_mv | AT vothanhtung investigationthestructuredmaterialsurfacesusingthequartztuningforkbasedonanatomicforcemicroscopywithcontrollableqfactorintwomodesoperationintermittentcontactandshearforce AT chizhiksa investigationthestructuredmaterialsurfacesusingthequartztuningforkbasedonanatomicforcemicroscopywithcontrollableqfactorintwomodesoperationintermittentcontactandshearforce AT chikunovvv investigationthestructuredmaterialsurfacesusingthequartztuningforkbasedonanatomicforcemicroscopywithcontrollableqfactorintwomodesoperationintermittentcontactandshearforce AT tranxuanhoai investigationthestructuredmaterialsurfacesusingthequartztuningforkbasedonanatomicforcemicroscopywithcontrollableqfactorintwomodesoperationintermittentcontactandshearforce AT vothanhtung atomnosilovamíkroskopíâpoverhonʹzadopomogoûkvarcovogokamertonnogodatčikavlateralʹnosilovomuínapívkontaktnomurežimah AT chizhiksa atomnosilovamíkroskopíâpoverhonʹzadopomogoûkvarcovogokamertonnogodatčikavlateralʹnosilovomuínapívkontaktnomurežimah AT chikunovvv atomnosilovamíkroskopíâpoverhonʹzadopomogoûkvarcovogokamertonnogodatčikavlateralʹnosilovomuínapívkontaktnomurežimah AT tranxuanhoai atomnosilovamíkroskopíâpoverhonʹzadopomogoûkvarcovogokamertonnogodatčikavlateralʹnosilovomuínapívkontaktnomurežimah AT vothanhtung atomnosilovaâmikroskopiâpoverhnosteispomoŝʹûkvarcevogokamertonnogodatčikavlateralʹnosilovomipolukontaktnomrežimah AT chizhiksa atomnosilovaâmikroskopiâpoverhnosteispomoŝʹûkvarcevogokamertonnogodatčikavlateralʹnosilovomipolukontaktnomrežimah AT chikunovvv atomnosilovaâmikroskopiâpoverhnosteispomoŝʹûkvarcevogokamertonnogodatčikavlateralʹnosilovomipolukontaktnomrežimah AT tranxuanhoai atomnosilovaâmikroskopiâpoverhnosteispomoŝʹûkvarcevogokamertonnogodatčikavlateralʹnosilovomipolukontaktnomrežimah |