Зображення обкладинки

Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force”

We present a combination of an atomic force microscopy with a quartz-crystal tuning fork in ambient conditions. A silicon cantilever tip was attached to one prong of the tuning fork to realize shear-force and intermittent contact mode Fork-AFM operation. By electronically adjusting the quality facto...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2008
Автори: Vo Thanh Tung, Chizhik, S.A., Chikunov, V.V., Tran Xuan Hoai
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2008
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7881
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Investigation the structured material surfaces using the quartz tuning fork based on an atomic force microscopy with controllable q-factor in two modes operation: “intermittent contact” and “shear-force” / Vo Thanh Tung, S.A. Chizhik, V.V. Chikunov, Tran Xuan Hoai // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 210-215. — Бібліогр.: 20 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Схожі ресурси