Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile”
Для обработки результатов рентгендифрактометрических исследований нанокристаллических ионно-плазменных конденсатов квазибинарной W2B5-TiB2 системы предложено использовать программный пакет, включающий комплекс средств предварительной обработки дифракционных спектров, позволяющий производить выбор ап...
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2008
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7885 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” / М.В. Решетняк, О.В. Соболь // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 180-188. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862724330219110400 |
|---|---|
| author | Решетняк, М.В. Соболь, О.В. |
| author_facet | Решетняк, М.В. Соболь, О.В. |
| citation_txt | Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” / М.В. Решетняк, О.В. Соболь // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 180-188. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| description | Для обработки результатов рентгендифрактометрических исследований нанокристаллических ионно-плазменных конденсатов квазибинарной W2B5-TiB2 системы предложено использовать программный пакет, включающий комплекс средств предварительной обработки дифракционных спектров, позволяющий производить выбор аппроксимирующей функции с последующим ее использованием в случае необходимости разделения сложного профиля накладывающихся дифракционных пиков, а также удобную для использования электронную базу сравнения. Выявлено, что в конденсатах квазибинарной системы W2B5-TiB2 при отношении Ti/W < 0,5 формируется двухфазное состояние, где помимо твердого раствора (W,Ti)B2 присутствует вторая І-WB фаза с меньшим содержанием бора по сравнению с распыляемой диборидной мишенью. Показано, что с увеличением толщины конденсата происходит повышение структурного совершенства формирующихся кристаллитов, выражающееся в увеличении их среднего размера и уменьшении величины микродеформации решетки.
Для обробки результатів рентгендифрактометричних досліджень нанокристалічних іонноплазмових конденсатів квазібінарної W2B5-TiB2 системи запропоновано використовувати програмний пакет, що включає комплекс засобів попередньої обробки дифракційних спектрів, зручну для використання електронну базу порівняння, а також дозволяє робити вибір апроксимуючої функції з наступним її використанням у випадку необхідності поділу складного профілю дифракційних піків, що накладаються. Виявлено, що у конденсатах квазібінарної системи W2B5-TiB2 при відношенні Ti/W <0,5 формується двохфазний стан, де крім твердого розчину (W,Ti)B2 присутня друга β-WB фаза з меншим вмістом бору у порівнянні з диборідною мішенню, що розпилюється.
For treatment of X-ray diffraction results on ionplasma W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensates, the program package was proposed including both a complex of means for diffraction spectra preliminary treatment allowing selection of approximation function applied, if necessary, for resolution of complex profile with overlaid diffraction peaks, and easy-to-use electronic bases of comparison. In W2B5-TiB2 quasi-binary condensates with Ti/W <0.5, the formation of two-phase state was revealed, where besides (W,Ti)B2 solid solution, the second β-WB phase exists with less boron content comparing to sputtered diboride target. It was shown, with increasing condensate thickness, structure perfection is improved that manifested both in growing crystallite average size and decreasing lattice micro-strain.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:46:17Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-7885 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1999-8074 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T18:46:17Z |
| publishDate | 2008 |
| publisher | Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Решетняк, М.В. Соболь, О.В. 2010-04-20T12:55:42Z 2010-04-20T12:55:42Z 2008 Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” / М.В. Решетняк, О.В. Соболь // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 180-188. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. 1999-8074 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7885 538.91:548.73: 539.234 Для обработки результатов рентгендифрактометрических исследований нанокристаллических ионно-плазменных конденсатов квазибинарной W2B5-TiB2 системы предложено использовать программный пакет, включающий комплекс средств предварительной обработки дифракционных спектров, позволяющий производить выбор аппроксимирующей функции с последующим ее использованием в случае необходимости разделения сложного профиля накладывающихся дифракционных пиков, а также удобную для использования электронную базу сравнения. Выявлено, что в конденсатах квазибинарной системы W2B5-TiB2 при отношении Ti/W < 0,5 формируется двухфазное состояние, где помимо твердого раствора (W,Ti)B2 присутствует вторая І-WB фаза с меньшим содержанием бора по сравнению с распыляемой диборидной мишенью. Показано, что с увеличением толщины конденсата происходит повышение структурного совершенства формирующихся кристаллитов, выражающееся в увеличении их среднего размера и уменьшении величины микродеформации решетки. Для обробки результатів рентгендифрактометричних досліджень нанокристалічних іонноплазмових конденсатів квазібінарної W2B5-TiB2 системи запропоновано використовувати програмний пакет, що включає комплекс засобів попередньої обробки дифракційних спектрів, зручну для використання електронну базу порівняння, а також дозволяє робити вибір апроксимуючої функції з наступним її використанням у випадку необхідності поділу складного профілю дифракційних піків, що накладаються. Виявлено, що у конденсатах квазібінарної системи W2B5-TiB2 при відношенні Ti/W <0,5 формується двохфазний стан, де крім твердого розчину (W,Ti)B2 присутня друга β-WB фаза з меншим вмістом бору у порівнянні з диборідною мішенню, що розпилюється. For treatment of X-ray diffraction results on ionplasma W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensates, the program package was proposed including both a complex of means for diffraction spectra preliminary treatment allowing selection of approximation function applied, if necessary, for resolution of complex profile with overlaid diffraction peaks, and easy-to-use electronic bases of comparison. In W2B5-TiB2 quasi-binary condensates with Ti/W <0.5, the formation of two-phase state was revealed, where besides (W,Ti)B2 solid solution, the second β-WB phase exists with less boron content comparing to sputtered diboride target. It was shown, with increasing condensate thickness, structure perfection is improved that manifested both in growing crystallite average size and decreasing lattice micro-strain. ru Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” Розширення можливостей аналізу структури та субструктурних характеристик нанокристалічних конденсованих і масивних матеріалів квазібінарної системи W2B5-tib2 при використанні програми обробки рентгендифракційних даних “New_profile” Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-tib2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of “New_profile” soft-ware for x-ray diffraction data treatment Article published earlier |
| spellingShingle | Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” Решетняк, М.В. Соболь, О.В. |
| title | Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” |
| title_alt | Розширення можливостей аналізу структури та субструктурних характеристик нанокристалічних конденсованих і масивних матеріалів квазібінарної системи W2B5-tib2 при використанні програми обробки рентгендифракційних даних “New_profile” Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-tib2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of “New_profile” soft-ware for x-ray diffraction data treatment |
| title_full | Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” |
| title_fullStr | Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” |
| title_full_unstemmed | Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” |
| title_short | Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” |
| title_sort | расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы w2b5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “new_profile” |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7885 |
| work_keys_str_mv | AT rešetnâkmv rasširenievozmožnosteianalizastrukturyisubstrukturnyhharakteristiknanokristalličeskihkondensirovannyhimassivnyhmaterialovkvazibinarnoisistemyw2b5tib2priispolʹzovaniiprogrammyobrabotkirentgendifrakcionnyhdannyhnewprofile AT sobolʹov rasširenievozmožnosteianalizastrukturyisubstrukturnyhharakteristiknanokristalličeskihkondensirovannyhimassivnyhmaterialovkvazibinarnoisistemyw2b5tib2priispolʹzovaniiprogrammyobrabotkirentgendifrakcionnyhdannyhnewprofile AT rešetnâkmv rozširennâmožlivosteianalízustrukturitasubstrukturnihharakteristiknanokristalíčnihkondensovanihímasivnihmateríalívkvazíbínarnoísistemiw2b5tib2privikoristanníprogramiobrobkirentgendifrakcíinihdanihnewprofile AT sobolʹov rozširennâmožlivosteianalízustrukturitasubstrukturnihharakteristiknanokristalíčnihkondensovanihímasivnihmateríalívkvazíbínarnoísistemiw2b5tib2privikoristanníprogramiobrobkirentgendifrakcíinihdanihnewprofile AT rešetnâkmv nhancementofstructureandsubstructureanalysisofw2b5tib2quasibinarynanocrystallinecondensedandbulkmaterialswithapplicationofnewprofilesoftwareforxraydiffractiondatatreatment AT sobolʹov nhancementofstructureandsubstructureanalysisofw2b5tib2quasibinarynanocrystallinecondensedandbulkmaterialswithapplicationofnewprofilesoftwareforxraydiffractiondatatreatment |