Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile”
Для обработки результатов рентгендифрактометрических исследований нанокристаллических ионно-плазменных конденсатов квазибинарной W2B5-TiB2 системы предложено использовать программный пакет, включающий комплекс средств предварительной обработки дифракционных спектров, позволяющий производить выбор ап...
Збережено в:
| Дата: | 2008 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2008
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7885 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” / М.В. Решетняк, О.В. Соболь // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 180-188. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |