Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile”
Для обработки результатов рентгендифрактометрических исследований нанокристаллических ионно-плазменных конденсатов квазибинарной W2B5-TiB2 системы предложено использовать программный пакет, включающий комплекс средств предварительной обработки дифракционных спектров, позволяющий производить выбор ап...
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2008
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7885 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Расширение возможностей анализа структуры и субструктурных характеристик нанокристаллических конденсированных и массивных материалов квазибинарной системы W2B5-tib2 при использовании программы обработки рентгендифракционных данных “New_profile” / М.В. Решетняк, О.В. Соболь // Физическая инженерия поверхности. — 2008. — Т. 6, № 3-4. — С. 180-188. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |