Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors
An automatic multi-channel set-up prototype for simultaneous testing of the Long-Term Stability (LTS)
 *
 of more
 than ten detectors is described. The Inner Tracking System of the ALICE experiment will include about two thousand
 Double-Sided Microstrip Detectors (DS...
Saved in:
| Published in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Date: | 2006 |
| Main Authors: | , , , , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2006
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78865 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors / A.V. Kosinov, N. I. Maslov, S. V. Naumov, V. D. Ovchinnik, A. F. Starodubtsev,
 G. P. Vasilyev, V. I. Yalovenko,L. Bosisio // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 2. — С.163-165. — Бібліогр.:6 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862706302482907136 |
|---|---|
| author | Kosinov, A.V. Maslov, N. I. Naumov, S. V. Ovchinni, V. D. Starodubtsev, A. F. Vasilyev, G. P. Yalovenko, V. I. Bosisio, L. |
| author_facet | Kosinov, A.V. Maslov, N. I. Naumov, S. V. Ovchinni, V. D. Starodubtsev, A. F. Vasilyev, G. P. Yalovenko, V. I. Bosisio, L. |
| citation_txt | Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors / A.V. Kosinov, N. I. Maslov, S. V. Naumov, V. D. Ovchinnik, A. F. Starodubtsev,
 G. P. Vasilyev, V. I. Yalovenko,L. Bosisio // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 2. — С.163-165. — Бібліогр.:6 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Вопросы атомной науки и техники |
| description | An automatic multi-channel set-up prototype for simultaneous testing of the Long-Term Stability (LTS)
*
of more
than ten detectors is described. The Inner Tracking System of the ALICE experiment will include about two thousand
Double-Sided Microstrip Detectors (DSMD). Efficient automatic measurement techniques are crucial for the
LTS test, because the corresponding test procedure should be performed on each detector and requires long times, at
least two days. By using special adapters for supporting and connecting the bare DSMDs, failing detectors can be
screened out before module assembly, thus minimizing the cost. Automated probe stations developed for a special
purpose or for microelectronics industry are used for measuring physical static DSMD characteristics and check
good-to-bad element ratio for DSMD. However, automated (or semi-automatic) test benches for studying LTS or
testing DSMD long-term stability before developing a detecting module are absent.
Важная часть тестирования детектора и процедура определения гарантии качества состоит в изучении долговременной стабильности основных характеристик (ДСХ) детекторов, включая исследование эффектов влияния окружающей среды, таких как влажность или температура. В данной работе описаны метод тестирования и автоматический многоканальный стенд, специально разработанный для одновременного тестирования ДСХ более чем десяти детекторов
Важлива частина тестування детектора і процедури визначення гарантії якості складається у вивченні
довгострокової стабільності основних характеристик (ДСХ) детекторів, включаючи дослідження ефектів
впливу навколишнього середовища, таких як вологість або температура. У даній роботі описані метод
тестування та автоматичний стенд, спеціально розроблений для одночасного тестування ДСХ більш ніж
десяти детекторів.
|
| first_indexed | 2025-12-07T16:58:01Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-78865 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1562-6016 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T16:58:01Z |
| publishDate | 2006 |
| publisher | Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Kosinov, A.V. Maslov, N. I. Naumov, S. V. Ovchinni, V. D. Starodubtsev, A. F. Vasilyev, G. P. Yalovenko, V. I. Bosisio, L. 2015-03-22T08:50:39Z 2015-03-22T08:50:39Z 2006 Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors / A.V. Kosinov, N. I. Maslov, S. V. Naumov, V. D. Ovchinnik, A. F. Starodubtsev,
 G. P. Vasilyev, V. I. Yalovenko,L. Bosisio // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 2. — С.163-165. — Бібліогр.:6 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 29.40.Wk https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78865 An automatic multi-channel set-up prototype for simultaneous testing of the Long-Term Stability (LTS)
 *
 of more
 than ten detectors is described. The Inner Tracking System of the ALICE experiment will include about two thousand
 Double-Sided Microstrip Detectors (DSMD). Efficient automatic measurement techniques are crucial for the
 LTS test, because the corresponding test procedure should be performed on each detector and requires long times, at
 least two days. By using special adapters for supporting and connecting the bare DSMDs, failing detectors can be
 screened out before module assembly, thus minimizing the cost. Automated probe stations developed for a special
 purpose or for microelectronics industry are used for measuring physical static DSMD characteristics and check
 good-to-bad element ratio for DSMD. However, automated (or semi-automatic) test benches for studying LTS or
 testing DSMD long-term stability before developing a detecting module are absent. Важная часть тестирования детектора и процедура определения гарантии качества состоит в изучении долговременной стабильности основных характеристик (ДСХ) детекторов, включая исследование эффектов влияния окружающей среды, таких как влажность или температура. В данной работе описаны метод тестирования и автоматический многоканальный стенд, специально разработанный для одновременного тестирования ДСХ более чем десяти детекторов Важлива частина тестування детектора і процедури визначення гарантії якості складається у вивченні
 довгострокової стабільності основних характеристик (ДСХ) детекторів, включаючи дослідження ефектів
 впливу навколишнього середовища, таких як вологість або температура. У даній роботі описані метод
 тестування та автоматичний стенд, спеціально розроблений для одночасного тестування ДСХ більш ніж
 десяти детекторів. Ця робота підтримана частково INTAS, проект № 03-55-964. en Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Применение ускорителей в радиационных технологиях Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors Усовершенствование методики тестирования долговременной стабильности кремниевых микростриповых детекторов Удосконалення методики тестування довгострокової стабільності кремнієвих мікростриповых детекторів Article published earlier |
| spellingShingle | Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors Kosinov, A.V. Maslov, N. I. Naumov, S. V. Ovchinni, V. D. Starodubtsev, A. F. Vasilyev, G. P. Yalovenko, V. I. Bosisio, L. Применение ускорителей в радиационных технологиях |
| title | Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors |
| title_alt | Усовершенствование методики тестирования долговременной стабильности кремниевых микростриповых детекторов Удосконалення методики тестування довгострокової стабільності кремнієвих мікростриповых детекторів |
| title_full | Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors |
| title_fullStr | Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors |
| title_full_unstemmed | Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors |
| title_short | Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors |
| title_sort | development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors |
| topic | Применение ускорителей в радиационных технологиях |
| topic_facet | Применение ускорителей в радиационных технологиях |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/78865 |
| work_keys_str_mv | AT kosinovav developmentoftechniquefortestingthelongtermstabilityofsiliconmicrostripdetectors AT maslovni developmentoftechniquefortestingthelongtermstabilityofsiliconmicrostripdetectors AT naumovsv developmentoftechniquefortestingthelongtermstabilityofsiliconmicrostripdetectors AT ovchinnivd developmentoftechniquefortestingthelongtermstabilityofsiliconmicrostripdetectors AT starodubtsevaf developmentoftechniquefortestingthelongtermstabilityofsiliconmicrostripdetectors AT vasilyevgp developmentoftechniquefortestingthelongtermstabilityofsiliconmicrostripdetectors AT yalovenkovi developmentoftechniquefortestingthelongtermstabilityofsiliconmicrostripdetectors AT bosisiol developmentoftechniquefortestingthelongtermstabilityofsiliconmicrostripdetectors AT kosinovav usoveršenstvovaniemetodikitestirovaniâdolgovremennoistabilʹnostikremnievyhmikrostripovyhdetektorov AT maslovni usoveršenstvovaniemetodikitestirovaniâdolgovremennoistabilʹnostikremnievyhmikrostripovyhdetektorov AT naumovsv usoveršenstvovaniemetodikitestirovaniâdolgovremennoistabilʹnostikremnievyhmikrostripovyhdetektorov AT ovchinnivd usoveršenstvovaniemetodikitestirovaniâdolgovremennoistabilʹnostikremnievyhmikrostripovyhdetektorov AT starodubtsevaf usoveršenstvovaniemetodikitestirovaniâdolgovremennoistabilʹnostikremnievyhmikrostripovyhdetektorov AT vasilyevgp usoveršenstvovaniemetodikitestirovaniâdolgovremennoistabilʹnostikremnievyhmikrostripovyhdetektorov AT yalovenkovi usoveršenstvovaniemetodikitestirovaniâdolgovremennoistabilʹnostikremnievyhmikrostripovyhdetektorov AT bosisiol usoveršenstvovaniemetodikitestirovaniâdolgovremennoistabilʹnostikremnievyhmikrostripovyhdetektorov AT kosinovav udoskonalennâmetodikitestuvannâdovgostrokovoístabílʹnostíkremníêvihmíkrostripovyhdetektorív AT maslovni udoskonalennâmetodikitestuvannâdovgostrokovoístabílʹnostíkremníêvihmíkrostripovyhdetektorív AT naumovsv udoskonalennâmetodikitestuvannâdovgostrokovoístabílʹnostíkremníêvihmíkrostripovyhdetektorív AT ovchinnivd udoskonalennâmetodikitestuvannâdovgostrokovoístabílʹnostíkremníêvihmíkrostripovyhdetektorív AT starodubtsevaf udoskonalennâmetodikitestuvannâdovgostrokovoístabílʹnostíkremníêvihmíkrostripovyhdetektorív AT vasilyevgp udoskonalennâmetodikitestuvannâdovgostrokovoístabílʹnostíkremníêvihmíkrostripovyhdetektorív AT yalovenkovi udoskonalennâmetodikitestuvannâdovgostrokovoístabílʹnostíkremníêvihmíkrostripovyhdetektorív AT bosisiol udoskonalennâmetodikitestuvannâdovgostrokovoístabílʹnostíkremníêvihmíkrostripovyhdetektorív |