Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation
We have proposed a new model for the calculation of the absorbed dose profile in a thick target under 0.1…3 MeV electron irradiation. The build-up phenomenon is shown to increase the maximum of the energy deposition profile in thick samples by a factor of two in comparison with thin targets as a r...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Datum: | 2004 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2004
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/79072 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation / V.V. Gann, H.W. den Hartog, D.I. Vainshtein // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 1. — С. 197-199. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-79072 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Gann, V.V. den Hartog, H.W. Vainshtein, D.I. 2015-03-25T20:34:32Z 2015-03-25T20:34:32Z 2004 Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation / V.V. Gann, H.W. den Hartog, D.I. Vainshtein // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 1. — С. 197-199. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 61.80.Fe, 81.40.Wx https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/79072 We have proposed a new model for the calculation of the absorbed dose profile in a thick target under 0.1…3 MeV electron irradiation. The build-up phenomenon is shown to increase the maximum of the energy deposition profile in thick samples by a factor of two in comparison with thin targets as a result of backscattered and multi-scattered electrons. The absorbed dose profile in NaCl for 0.5 MeV electron irradiation has been determined by measuring the stored energy with differential scanning calorimetry. Запропоновано нову модель для розрахунку профілів поглиненої енергії в товстих мішенях, що опромінюються пучком електронів з енергіями 0.1…3 МеВ. Показано, що внаслідок ефекту накопичування дози, зв'язаного з багаторазовим і зворотним розсіюванням електронів, максимальне значення поглиненої енергії у товстих мішенях збільшується вдвічі в порівнянні з тонкими мішенями. Вивчено профіль розподілу поглиненої енергії в кристалічній пластинці NaCl, опроміненої електронами з енергією 0.5 МеВ, шляхом вимірювання запасеної енергії методом диференціальної скануємої калориметрії. Предложена новая модель для расчета профилей поглощенной энергии в толстых мишенях, облучаемых пучком электронов с энергиями 0.1…3 МэВ. Показано, что вследствие эффекта накопления дозы, связанного с многократным и обратным рассеянием электронов, максимальное значение поглощенной энергии в толстых мишенях увеличивается вдвое по сравнению с тонкими мишенями. Изучен профиль распределения поглощенной энергии в кристаллической пластинке NaCl, облученной электронами с энергией 0.5 МэВ, путем измерения запасенной энергии методом дифференциальной сканирующей калориметрии. This study is supported by the Dutch Ministry of Economic Affairs. en Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Применение ускоренных пучков Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation Дослідження профілів поглиненої енергії в кристалах NaCl при електронному опроміненні Исследование профилей поглощенной энергии в кристаллах NaCl при электронном облучении Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation |
| spellingShingle |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation Gann, V.V. den Hartog, H.W. Vainshtein, D.I. Применение ускоренных пучков |
| title_short |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation |
| title_full |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation |
| title_fullStr |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation |
| title_full_unstemmed |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation |
| title_sort |
investigation of the energy deposition profile in nacl under electron irradiation |
| author |
Gann, V.V. den Hartog, H.W. Vainshtein, D.I. |
| author_facet |
Gann, V.V. den Hartog, H.W. Vainshtein, D.I. |
| topic |
Применение ускоренных пучков |
| topic_facet |
Применение ускоренных пучков |
| publishDate |
2004 |
| language |
English |
| container_title |
Вопросы атомной науки и техники |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Дослідження профілів поглиненої енергії в кристалах NaCl при електронному опроміненні Исследование профилей поглощенной энергии в кристаллах NaCl при электронном облучении |
| description |
We have proposed a new model for the calculation of the absorbed dose profile in a thick target under 0.1…3 MeV electron
irradiation. The build-up phenomenon is shown to increase the maximum of the energy deposition profile in thick samples by a
factor of two in comparison with thin targets as a result of backscattered and multi-scattered electrons. The absorbed dose profile
in NaCl for 0.5 MeV electron irradiation has been determined by measuring the stored energy with differential scanning
calorimetry.
Запропоновано нову модель для розрахунку профілів поглиненої енергії в товстих мішенях, що
опромінюються пучком електронів з енергіями 0.1…3 МеВ. Показано, що внаслідок ефекту накопичування дози, зв'язаного з багаторазовим і зворотним розсіюванням електронів, максимальне значення поглиненої
енергії у товстих мішенях збільшується вдвічі в порівнянні з тонкими мішенями. Вивчено профіль розподілу
поглиненої енергії в кристалічній пластинці NaCl, опроміненої електронами з енергією 0.5 МеВ, шляхом
вимірювання запасеної енергії методом диференціальної скануємої калориметрії.
Предложена новая модель для расчета профилей поглощенной энергии в толстых мишенях, облучаемых
пучком электронов с энергиями 0.1…3 МэВ. Показано, что вследствие эффекта накопления дозы, связанного с многократным и обратным рассеянием электронов, максимальное значение поглощенной энергии в толстых мишенях увеличивается вдвое по сравнению с тонкими мишенями. Изучен профиль распределения
поглощенной энергии в кристаллической пластинке NaCl, облученной электронами с энергией 0.5 МэВ, путем измерения запасенной энергии методом дифференциальной сканирующей калориметрии.
|
| issn |
1562-6016 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/79072 |
| citation_txt |
Investigation of the energy deposition profile in NaCl under electron irradiation / V.V. Gann, H.W. den Hartog, D.I. Vainshtein // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 1. — С. 197-199. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT gannvv investigationoftheenergydepositionprofileinnaclunderelectronirradiation AT denhartoghw investigationoftheenergydepositionprofileinnaclunderelectronirradiation AT vainshteindi investigationoftheenergydepositionprofileinnaclunderelectronirradiation AT gannvv doslídžennâprofílívpoglinenoíenergíívkristalahnaclprielektronnomuopromínenní AT denhartoghw doslídžennâprofílívpoglinenoíenergíívkristalahnaclprielektronnomuopromínenní AT vainshteindi doslídžennâprofílívpoglinenoíenergíívkristalahnaclprielektronnomuopromínenní AT gannvv issledovanieprofileipogloŝennoiénergiivkristallahnaclpriélektronnomoblučenii AT denhartoghw issledovanieprofileipogloŝennoiénergiivkristallahnaclpriélektronnomoblučenii AT vainshteindi issledovanieprofileipogloŝennoiénergiivkristallahnaclpriélektronnomoblučenii |
| first_indexed |
2025-12-07T18:18:58Z |
| last_indexed |
2025-12-07T18:18:58Z |
| _version_ |
1850874568525217792 |