Features of angular distributions of 1 GeV electrons scattered by thin silicon monocrystal

The result of theoretical and experimental investigations of angular distribution structure of 1 GeV electrons scattered by silicon crystal of 10 mm thickness are presented. The electron beam was falling on the crystal under different angles (from zero to the critical channeling angle) in respect to...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Вопросы атомной науки и техники
Datum:2001
Hauptverfasser: Fomin, S.P., Shcherbak, S.F., Kasilov, V.I., Lapin, N.I., Shul'ga, N.F.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2001
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/79420
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Features of angular distributions of 1 GeV electrons scattered by thin silicon monocrystal / S.P. Fomin, S.F. Shcherbak, V.I. Kasilov, N.I. Lapin, N.F. Shul'ga // Вопросы атомной науки и техники. — 2001. — № 6. — С. 138-143. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine