Ганн, В., Черняева, Т., Стукалов, А., Грицина, В., & Рагулина, Н. (2002). Компьютерная программа обработки снимков микроструктуры материалов, предлагаемая для использования при оценке качества изделий по количеству второй фазы. Вопросы атомной науки и техники.
Chicago Style (17th ed.) CitationГанн, В.В, Т.П Черняева, А.И Стукалов, В.М Грицина, and Н.И Рагулина. "Компьютерная программа обработки снимков микроструктуры материалов, предлагаемая для использования при оценке качества изделий по количеству второй фазы." Вопросы атомной науки и техники 2002.
MLA (8th ed.) CitationГанн, В.В, et al. "Компьютерная программа обработки снимков микроструктуры материалов, предлагаемая для использования при оценке качества изделий по количеству второй фазы." Вопросы атомной науки и техники, 2002.