Ганн, В., Черняева, Т., Стукалов, А., Грицина, В., & Рагулина, Н. (2002). Компьютерная программа обработки снимков микроструктуры материалов, предлагаемая для использования при оценке качества изделий по количеству второй фазы. Вопросы атомной науки и техники.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Ганн, В.В, Т.П Черняева, А.И Стукалов, В.М Грицина, und Н.И Рагулина. "Компьютерная программа обработки снимков микроструктуры материалов, предлагаемая для использования при оценке качества изделий по количеству второй фазы." Вопросы атомной науки и техники 2002.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Ганн, В.В, et al. "Компьютерная программа обработки снимков микроструктуры материалов, предлагаемая для использования при оценке качества изделий по количеству второй фазы." Вопросы атомной науки и техники, 2002.