Определение числа фотоэлектронов
Saved in:
| Published in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Date: | 1999 |
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
1999
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/79579 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Определение числа фотоэлектронов / А.Е. Зацеркляный, А.А. Немашкало, В.Ф. Попов // Вопросы атомной науки и техники. — 1999. — № 1. — С. 44. — Бібліогр.: 2 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1859484465530667008 |
|---|---|
| author | Зацеркляный, А.Е. Немашкало, А.А. Попов, В.Ф. |
| author_facet | Зацеркляный, А.Е. Немашкало, А.А. Попов, В.Ф. |
| citation_txt | Определение числа фотоэлектронов / А.Е. Зацеркляный, А.А. Немашкало, В.Ф. Попов // Вопросы атомной науки и техники. — 1999. — № 1. — С. 44. — Бібліогр.: 2 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Вопросы атомной науки и техники |
| first_indexed | 2025-11-24T15:13:03Z |
| format | Article |
| fulltext |
УДК 539.172
Определение числа фотоэлектронов
А.Е.Зацеркляный, А.А.Немашкало, В.Ф.Попов
ИФВЭЯФ ННЦ ХФТИ, г. Харьков
Существующие методы оценки числа фотоэлектро-
нов (ф.э.) по амплитудному спектру ФЭУ [1,2] при-
менимы, строго говоря, лишь к источнику, у которого
интенсивность световых вспышек распределена по
Пуассону. Такие факторы как немонохроматичность
источника заряженных частиц, разброс потерь, неод-
нородность светосбора приводят к отклонению рас-
пределения амплитуды световых вспышек от распре-
деления Пуассона.
Как и в работах [1,2], для определения среднего
числа ф.э. мы выполняем разложение амплитудного
спектра по набору гауссианов, отвечающих событиям
с выбиванием 1, 2 и т.д. ф.э. из фотокатода. Расстоя-
ние этих парциальных пиков равно расстоянию одноэ-
лектронного пика и пьедестала, среднеквадратичные
ширины задаются как σn=σ1√n, где σn - стандартное
отклонение n-го пика, а σ1 - стандартное отклонение
одноэлектронного пика. Это основано на допущении
линейности ФЭУ и спектрометрического тракта и на
пуассоновском характере размножения вторичных
электронов в ФЭУ. Но, в отличие от этих работ, ам-
плитуды парциальных пиков не задаются распределе-
нием Пуассона и могут быть произвольными.
Положение и ширина одноэлектронного пика и
пьедестала вместе с их погрешностями измеряются по
калибровочным спектрам с очень малым числом ф.э.
(∼0.01 ф.э.), где вклад двухэлектронного и последую-
щих пиков мал. Определив эти параметры, для оценки
среднего числа ф.э. исследуемого амплитудного спек-
тра мы переводим его в спектр ф.э. с помощью итера-
ционной процедуры. В качестве нулевого при-
ближения для интенсивности n-го парциального пика
берется среднее значение амплитуды в окрестности
±σn вокруг положения пика. В ходе итерационного
процесса значение каждого канала амплитудного
спектра распределяется по парциальным пикам в со-
ответствии с интенсивностями, полученными в пре-
дыдущей итерации. Таким образом производится
уточнение интенсивностей парциальных пиков. Для
достижения точности итерационной процедуры в 1%
обычно требуется около пяти итераций. Окончатель-
ная поправка выполняется следующим путем. Из по-
лученного спектра ф.э. мы восстанавливаем амплитуд-
ный спектр и подвергаем его такой же процедуре для
получения его спектра ф.э. Разность фотоэлектронных
спектров, полученных из обработки исходного и вос-
становленного амплитудных спектров, вносится как
поправка в спектр ф.э. исходного амплитудного спек-
тра. Ввиду того, что восстановленный амплитудный
спектр очень близок к исходному, величина этой поп-
равки составляет несколько процентов. Само значение
среднего числа ф.э. получается как математическое
ожидание распределения ф.э.
Точность самой математической процедуры состав-
ляет меньше процента, поэтому погрешность нашей
методики определяется, главным образом, точностью
определения параметров ФЭУ. Определяющим из
этих параметров является положение одноэлек-
тронного пика. Поэтому для оценки погрешности
среднего числа ф.э. мы находим среднее число ф.э.
исследуемого спектра, сместив положение одноэлек-
тронного пика на величину погрешности его изме-
рения. Типичная погрешность в числе ф.э. составляет
около 6%.
Пример определения среднего числа ф.э. приведен
на рисунке. Исходный амплитудный спектр получен
возбуждением сцинтилляционного тайла толщиной
4 мм источником 90Sr. Разброс ионизационных потерь
β-электронов при этом превышает 30%. Гистограмма,
нанесенная сплошной линией, представляет амплитуд-
ный спектр, восстановленный из спектра ф.э., по кото-
рому находилось среднее число ф.э. Для иллюстрации
изображены парциальные пики.
Программа реализована в виде макроса PAW и до-
ступна по запросу на адрес zatserkl@cms.cern.ch.
Литература
1. E.H.Bellamy et al., NIM, A339 (1994), 468.
2. M.Amaryan et al., CLASS-Note-92-012,
29-June-1992.
44
−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−
ВОПРОСЫ АТОМНОЙ НАУКИ И ТЕХНИКИ 1999, № 1.
СЕРИЯ: ЯДЕРНО−ФИЗИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ (33).
Статья поступила: в редакцию 20 мая 1998 г.,
в издательство 1 июня 1998 г.
Литература
|
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-79579 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1562-6016 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-24T15:13:03Z |
| publishDate | 1999 |
| publisher | Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Зацеркляный, А.Е. Немашкало, А.А. Попов, В.Ф. 2015-04-03T12:55:55Z 2015-04-03T12:55:55Z 1999 Определение числа фотоэлектронов / А.Е. Зацеркляный, А.А. Немашкало, В.Ф. Попов // Вопросы атомной науки и техники. — 1999. — № 1. — С. 44. — Бібліогр.: 2 назв. — рос. 1562-6016 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/79579 539.172 ru Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Методика эксперимента Определение числа фотоэлектронов Article published earlier |
| spellingShingle | Определение числа фотоэлектронов Зацеркляный, А.Е. Немашкало, А.А. Попов, В.Ф. Методика эксперимента |
| title | Определение числа фотоэлектронов |
| title_full | Определение числа фотоэлектронов |
| title_fullStr | Определение числа фотоэлектронов |
| title_full_unstemmed | Определение числа фотоэлектронов |
| title_short | Определение числа фотоэлектронов |
| title_sort | определение числа фотоэлектронов |
| topic | Методика эксперимента |
| topic_facet | Методика эксперимента |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/79579 |
| work_keys_str_mv | AT zacerklânyiae opredeleniečislafotoélektronov AT nemaškaloaa opredeleniečislafotoélektronov AT popovvf opredeleniečislafotoélektronov |