Оптическая спектральная память в пленочной гетероструктре p-CdTe-SiO2-Si
В гетероструктуре р-CdTe-SiO2-Si легко реализуются необходимые условия для существования оптической спектральной памяти – наличие ассиметричных микропотенциальных барьеров и глубоких ловушек. Время релаксации около 25 суток. Гетероструктуру можно использовать как оптоэлектронную спектральную ячейку...
Gespeichert in:
| Datum: | 2009 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | Алимов, Н., Акбаров, К., Абдуллаев, К., Дадажонова, Х., Отажонов, С.М., Отажонова, Д., Рахмонкулов, М. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2009
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7958 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Оптическая спектральная память в пленочной гетероструктре p-CdTe-SiO2-Si / Н. Алимов, К. Акбаров, К. Абдуллаев, Х. Дадажонова, С.М. Отажонов, Д. Отажонова, М. Рахмонкулов // Физическая инженерия поверхности. — 2009. — Т. 7, № 1-2. — С. 96-98. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
-
Фоточувствительность и механизм протекания тока в гетероструктурах p-CdTe-SiO₂-Si с глубокими примесными уровнями
von: Жураев, Н., et al.
Veröffentlicht: (2017) -
Фоточувствительность АФН – плёнок в гетероструктуре из CDTE-SiO₂-Si под действием внешнего электрического поля
von: Отажонов, С.М.
Veröffentlicht: (2004) -
The optical spectrum memory in a p-CdTe-SiO2-Si film heterostructure
von: N. Alimov, et al.
Veröffentlicht: (2009) -
Si as dopant impurity in CdTe
von: Fochuk, P.M., et al.
Veröffentlicht: (2005) -
Стимулирование аномального фотонапряжения под действием внешнего элек-трического поля в нанокристаллических структурах на основе CdTe-ZnSe с глубокими примесными уровнями
von: Акбаров, К., et al.
Veröffentlicht: (2008)