Влияние концентрации примеси на соотношение интенсивностей рентгеновских отражений от кристаллов металлофуллеренов

• Date: 2009
• Main Authors: Дроздов, А.Н., Вус, А.С., Пуха, В.Е., Пугачев, А.Т.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2009
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/7966
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Влияние концентрации примеси на соотношение интенсивностей рентгеновских отражений от кристаллов металлофуллеренов / А.Н. Дроздов, А.С. Вус, В.Е. Пуха, А.Т. Пугачев // Физическая инженерия поверхности. — 2009. — Т. 7, № 1-2. — С. 142-147. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.

В работе приведены результаты исследования особенностей формирования дифракционных картин кристаллами легированных фуллеритов. Установлены закономерности изменения соотношений интенсивностей дифракционных пиков при заполнении атомами металлов междоузельных и внутримолекулярных пустот кристалла фуллерита. Показано, что наличие примеси в пустотах кристаллической решетки фуллерита существенным образом влияет на соотношение интенсивностей рентгеновских отражений. В роботі приведені результати досліджень особливостей формування дифракційних картин кристалами легованих фуллеритів. Встановлені закономірності зміни співвідношення інтенсивностей дифракційних піків під час заповнення атомами металів порожнин кристалічної гратки фуллериту. Показано, що наявність домішки в порожнечах кристалу фуллерита значним чином впливає на співвідношення інтенсивностей рентгенівських рефлексів. The results of investigation of the X-ray pattern forming features by the doped fullerites crystals are presented in the work. The change correlation principles of the diffraction peaks intensity during the filling of the interstitial site of crystalline lattice of fullerites by the metal atoms are established. It is showed, that the impurity presence in the interstitial site of the fullerites crystal essentially effects on the X-ray reflex intensities correlation.