Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors

• Veröffentlicht in: Вопросы атомной науки и техники
• Datum: 2006
• ISSN: 1562-6016
• Hauptverfasser: Vasiliyev, G.P., Kosinov, A.V., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Naumov, S.V., Ovchinnik, V.D., Yalovenko, V.I.
• Format: Artikel
• Sprache: Englisch
• Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2006
• Schlagworte: Применение ускорителей в радиационных технологиях
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/79871
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors / G.P. Vasiliyev, A.V. Kosinov, V.I. Kulibaba, N.I. Maslov, S.V. Naumov, V.D. Ovchinnik,
 V.I. Yalovenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 3. — С. 137-139. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.

The paper reports the results from studies into the effect of temperature on the performance characteristics of planar
 silicon detectors designed and manufactured at the NSC KIPT. A variety of techniques are demonstrated for
 measuring the temperature effect on various static and spectral characteristics of single-channel planar detectors. The
 relationship between the static characteristics of detectors and their long-term stability and lifetime is considered. Приведены результаты исследования воздействия температуры на характеристики планарных кремниевых детекторов, спроектированных и изготовленных в ННЦ ХФТИ. Показан ряд методик, позволяющих проводить измерения влияния температуры на различные статические и спектральные характеристики одноканальных планарных детекторов. Рассматривается связь статических характеристик детекторов с долговременной стабильностью и временем жизни детекторов. Приведені результати досліджень впливу температури на характеристики пласких кремнієвих детекторів,
 спроектованих та виготовлених у ННЦ ХФТІ. Продемонстровано ряд методик, які дозволяють проводити
 вимірювання впливу температури на різні статичні та спектральні характеристики одноканальних пласких
 детекторів. Розглянуто зв’язок статичних характеристик детекторів з довгостроковою стабільністю та часом
 життя детекторів.