Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors
The paper reports the results from studies into the effect of temperature on the performance characteristics of planar silicon detectors designed and manufactured at the NSC KIPT. A variety of techniques are demonstrated for measuring the temperature effect on various static and spectral character...
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| Veröffentlicht in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Datum: | 2006 |
| Hauptverfasser: | Vasiliyev, G.P., Kosinov, A.V., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Naumov, S.V., Ovchinnik, V.D., Yalovenko, V.I. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2006
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/79871 |
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| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors / G.P. Vasiliyev, A.V. Kosinov, V.I. Kulibaba, N.I. Maslov, S.V. Naumov, V.D. Ovchinnik, V.I. Yalovenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 3. — С. 137-139. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. |
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