Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction

• Опубліковано в: : Вопросы атомной науки и техники
• Дата: 2004
• Автор: Shchagin, A.V.
• Формат: Стаття
• Мова: Англійська
• Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2004
• Теми: Параметрическое излучение
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/80444
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction / A.V. Shchagin // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 4. — С. 76-79. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

It is shown that the diffraction on a polycrystal can be used for investigation and diagnostics of X-ray radiation
 emitted in a forward direction by relativistic charged particles moving in crystalline or other targets or fields. Methods for measuring radiation spectral density, divergence, and linear polarization at any requisite energy from a few
 units to tens of keV are proposed. The explanation for the origination of experimentally observed and earlier unidentified spectral peaks as a result of Bragg diffraction on a polycrystal is proposed. The experiment for verification of
 the explanation is suggested. У роботі показано, що дифракція на полікристалі може бути використана для дослідження і діагностики
 рентгенівського випромінювання, що випускають у напрямку вперед релятивістські заряджені частки, що
 рухаються в кристалічних або інших мішенях і полях. Запропоновано методи для виміру спектральної
 густини, розбіжності і лінійної поляризації випромінювання при будь-якій бажаній енергії від декількох
 одиниць до десятків кілоелектронвольт. Запропоновано пояснення походження спектральних піків, що
 спостерігалися у експерименті і раніше не ідентифікованих, як результату дифракції Брегга на полікристалі.
 Пропонується експеримент для перевірки цього пояснення. В работе показано, что дифракция на поликристалле может быть использована для исследования и диагностики рентгеновского излучения, которое испускают в направлении вперед релятивистские заряженные
 частицы, движущиеся в кристаллических или других мишенях и полях. Предложены методы для измерения
 спектральной плотности, расходимости и линейной поляризации излучения при любой желаемой энергии от
 нескольких единиц до десятков килоэлектронвольт. Предложено объяснение происхождения наблюдавшихся в эксперименте и ранее не идентифицированных спектральных пиков как результата дифракции Брэгга на
 поликристалле. Предлагается эксперимент для проверки этого объяснения.