Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction
It is shown that the diffraction on a polycrystal can be used for investigation and diagnostics of X-ray radiation emitted in a forward direction by relativistic charged particles moving in crystalline or other targets or fields. Methods for measuring radiation spectral density, divergence, and lin...
Saved in:
| Published in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Date: | 2004 |
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2004
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/80444 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction / A.V. Shchagin // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 4. — С. 76-79. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-80444 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Shchagin, A.V. 2015-04-18T04:35:52Z 2015-04-18T04:35:52Z 2004 Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction / A.V. Shchagin // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 4. — С. 76-79. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 41.50.+h; 41.60.-m; 07.85 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/80444 It is shown that the diffraction on a polycrystal can be used for investigation and diagnostics of X-ray radiation emitted in a forward direction by relativistic charged particles moving in crystalline or other targets or fields. Methods for measuring radiation spectral density, divergence, and linear polarization at any requisite energy from a few units to tens of keV are proposed. The explanation for the origination of experimentally observed and earlier unidentified spectral peaks as a result of Bragg diffraction on a polycrystal is proposed. The experiment for verification of the explanation is suggested. У роботі показано, що дифракція на полікристалі може бути використана для дослідження і діагностики рентгенівського випромінювання, що випускають у напрямку вперед релятивістські заряджені частки, що рухаються в кристалічних або інших мішенях і полях. Запропоновано методи для виміру спектральної густини, розбіжності і лінійної поляризації випромінювання при будь-якій бажаній енергії від декількох одиниць до десятків кілоелектронвольт. Запропоновано пояснення походження спектральних піків, що спостерігалися у експерименті і раніше не ідентифікованих, як результату дифракції Брегга на полікристалі. Пропонується експеримент для перевірки цього пояснення. В работе показано, что дифракция на поликристалле может быть использована для исследования и диагностики рентгеновского излучения, которое испускают в направлении вперед релятивистские заряженные частицы, движущиеся в кристаллических или других мишенях и полях. Предложены методы для измерения спектральной плотности, расходимости и линейной поляризации излучения при любой желаемой энергии от нескольких единиц до десятков килоэлектронвольт. Предложено объяснение происхождения наблюдавшихся в эксперименте и ранее не идентифицированных спектральных пиков как результата дифракции Брэгга на поликристалле. Предлагается эксперимент для проверки этого объяснения. The author is thankful to V.M. Sanin for discussions at preparation of preliminary publication of present work as electronic preprint [4] (May, 2001). Then the paper [4] was discussed in Ref. [5]. Note that RFD diffraction and generation of PXR on common polycrystals are considered in Refs. [4,5] and the present paper. The author is thankful to N.N. Nasonov for discussion of the misprint in Eq. (6) [4]. Value eff γ [6] is used in Eq. (6) of the present paper to eliminate this misprint. Note, that PXR from common polycrystal was studied theoretically in Ref [7] and experimentally in Ref. [8]. The author is especially thankful to N.A. Khizhnyak for his attention for preliminary preprint [4] and related discussions for last months of his life in 2001. Further development of research in this field was organized by I. Endo at Hiroshima University for 2002-2004. The paper became possible partially due to Project STCU # 1030 from Science and Technology Center in Ukraine. en Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Параметрическое излучение Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction Використання дифракції на полікристалі для досліджень і діагностики рентгенівського випромінювання релятивістських часток у напрямку вперед Использование дифракции на поликристалле для исследований и диагно- стики рентгеновского излучения релятивистских частиц в направлении вперед Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction |
| spellingShingle |
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction Shchagin, A.V. Параметрическое излучение |
| title_short |
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction |
| title_full |
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction |
| title_fullStr |
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction |
| title_full_unstemmed |
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction |
| title_sort |
diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of x-ray radiation of relativistic particles in a forward direction |
| author |
Shchagin, A.V. |
| author_facet |
Shchagin, A.V. |
| topic |
Параметрическое излучение |
| topic_facet |
Параметрическое излучение |
| publishDate |
2004 |
| language |
English |
| container_title |
Вопросы атомной науки и техники |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Використання дифракції на полікристалі для досліджень і діагностики рентгенівського випромінювання релятивістських часток у напрямку вперед Использование дифракции на поликристалле для исследований и диагно- стики рентгеновского излучения релятивистских частиц в направлении вперед |
| description |
It is shown that the diffraction on a polycrystal can be used for investigation and diagnostics of X-ray radiation
emitted in a forward direction by relativistic charged particles moving in crystalline or other targets or fields. Methods for measuring radiation spectral density, divergence, and linear polarization at any requisite energy from a few
units to tens of keV are proposed. The explanation for the origination of experimentally observed and earlier unidentified spectral peaks as a result of Bragg diffraction on a polycrystal is proposed. The experiment for verification of
the explanation is suggested.
У роботі показано, що дифракція на полікристалі може бути використана для дослідження і діагностики
рентгенівського випромінювання, що випускають у напрямку вперед релятивістські заряджені частки, що
рухаються в кристалічних або інших мішенях і полях. Запропоновано методи для виміру спектральної
густини, розбіжності і лінійної поляризації випромінювання при будь-якій бажаній енергії від декількох
одиниць до десятків кілоелектронвольт. Запропоновано пояснення походження спектральних піків, що
спостерігалися у експерименті і раніше не ідентифікованих, як результату дифракції Брегга на полікристалі.
Пропонується експеримент для перевірки цього пояснення.
В работе показано, что дифракция на поликристалле может быть использована для исследования и диагностики рентгеновского излучения, которое испускают в направлении вперед релятивистские заряженные
частицы, движущиеся в кристаллических или других мишенях и полях. Предложены методы для измерения
спектральной плотности, расходимости и линейной поляризации излучения при любой желаемой энергии от
нескольких единиц до десятков килоэлектронвольт. Предложено объяснение происхождения наблюдавшихся в эксперименте и ранее не идентифицированных спектральных пиков как результата дифракции Брэгга на
поликристалле. Предлагается эксперимент для проверки этого объяснения.
|
| issn |
1562-6016 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/80444 |
| citation_txt |
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction / A.V. Shchagin // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 4. — С. 76-79. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT shchaginav diffractiononapolycrystalforinvestigationsanddiagnosticsofxrayradiationofrelativisticparticlesinaforwarddirection AT shchaginav vikoristannâdifrakcíínapolíkristalídlâdoslídženʹídíagnostikirentgenívsʹkogovipromínûvannârelâtivístsʹkihčastokunaprâmkuvpered AT shchaginav ispolʹzovaniedifrakciinapolikristalledlâissledovaniiidiagnostikirentgenovskogoizlučeniârelâtivistskihčasticvnapravleniivpered |
| first_indexed |
2025-12-07T16:05:13Z |
| last_indexed |
2025-12-07T16:05:13Z |
| _version_ |
1850866153153363968 |