Interference of quantities of interstrip capacitance and interstrip resistances of the two-coordinate microstrip detector
The dependence of interstrip capacitance of the double-sided microstrip detector on frequency of measuring is explored. Has been investigated at what frequency of measuring the observed value of interstrip capacitance is most in accord with quantity of interstrip resistance. By obtained results th...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Datum: | 2004 |
| Hauptverfasser: | Maslov, N.I., Potin, S.M., Starodubtsev, A.F. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2004
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/80552 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Interference of quantities of interstrip capacitance and interstrip resistances of the two-coordinate microstrip detector / N.I. Maslov, S.M. Potin, A.F. Starodubtsev // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 5. — С. 120-125. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineÄhnliche Einträge
Interstrip resistance of a semiconductor microstrip detector
von: Kulibaba, V., et al.
Veröffentlicht: (2001)
von: Kulibaba, V., et al.
Veröffentlicht: (2001)
On the incoherent radiation of relativistic electrons and positrons in crystal
von: Shul’ga, N.F., et al.
Veröffentlicht: (2004)
von: Shul’ga, N.F., et al.
Veröffentlicht: (2004)
Мechanisms of luminescence of amorphus dielectrics exposed to high-energy electrons
von: Romanovsky, S.K., et al.
Veröffentlicht: (2018)
von: Romanovsky, S.K., et al.
Veröffentlicht: (2018)
Angular density of diffracted transition radiation generated in a composite target by a relativistic electron beam
von: Blazhevich, S.V., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Blazhevich, S.V., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Radiation from relativistic positrons during planar channeling in crystals
von: Boldyshev, V.F., et al.
Veröffentlicht: (2004)
von: Boldyshev, V.F., et al.
Veröffentlicht: (2004)
Influence of multiple scattering on dynamical effect manifestation in coherent X-ray radiation by relativistic electron
von: Blazhevich, S.V., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Blazhevich, S.V., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Ultra relativistic electron beam spatial size estimation from angular distribution of their radiation in thin crystals
von: Goponov, Yu.A., et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Goponov, Yu.A., et al.
Veröffentlicht: (2015)
Stabilization of thermal breakdown development in semiconductor films
von: Andreyeva, N.V., et al.
Veröffentlicht: (2004)
von: Andreyeva, N.V., et al.
Veröffentlicht: (2004)
The comparison of the expressions for DTR angular density in Laue and Bragg scattering geometries
von: Blazhevich, S.V., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Blazhevich, S.V., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Studying electro-physical characteristics of detecting elements on the ohmic side of silicon microstrip detector
von: Maslov, N.I., et al.
Veröffentlicht: (2005)
von: Maslov, N.I., et al.
Veröffentlicht: (2005)
A generalized interstripation of functions of two variables
von: O. M. Lytvyn, et al.
Veröffentlicht: (2018)
von: O. M. Lytvyn, et al.
Veröffentlicht: (2018)
Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests
von: Kaplij, A.A., et al.
Veröffentlicht: (2000)
von: Kaplij, A.A., et al.
Veröffentlicht: (2000)
Review of Interstripation Methods in the Lagrange Form for Approximating Continuous Functions of Two Variables
von: Славік, Олексій
Veröffentlicht: (2025)
von: Славік, Олексій
Veröffentlicht: (2025)
Development and application of a silicon coordinate detectors
von: Kulibaba, V.I., et al.
Veröffentlicht: (2003)
von: Kulibaba, V.I., et al.
Veröffentlicht: (2003)
Full depletion voltage and separation voltage for a double-sided microstrip detector
von: Maslov, N., et al.
Veröffentlicht: (2006)
von: Maslov, N., et al.
Veröffentlicht: (2006)
Characteristics and radiation tolerance of a double-sided microstrip detector with polysilicon biasing resistors
von: de Haas, A.P., et al.
Veröffentlicht: (2000)
von: de Haas, A.P., et al.
Veröffentlicht: (2000)
Development of technique for testing the long-term stability of silicon microstrip detectors
von: Kosinov, A.V., et al.
Veröffentlicht: (2006)
von: Kosinov, A.V., et al.
Veröffentlicht: (2006)
Розв’язок спектральної задачі для поздовжньо неоднорідних недеполяризуючих середовищ
von: Коломіець, І.С., et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: Коломіець, І.С., et al.
Veröffentlicht: (2013)
Распределение локальных деформаций в окрестности трещин в сварном шве Ni—Cr—Fe по данным дифракции обратно рассеянных электронов
von: Фодчук, И.М., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Фодчук, И.М., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Радиационно-стимулированная зернограничная диффузия в железе, его сплавах и коррозионно-стойких сталях
von: Новосёлов, А.Н., et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: Новосёлов, А.Н., et al.
Veröffentlicht: (2013)
Перемагничивание многослойных нанопленок и быстродействующее управление спиновым током с помощью пикосекундных лазерных импульсов
von: Крупа, Н.Н.
Veröffentlicht: (2011)
von: Крупа, Н.Н.
Veröffentlicht: (2011)
Дисперсійна (фазова) природа структурної чутливості та інформативності однокристальної дифрактометрії дефектів і деформацій в іонно-імплантованих плівках
von: Скакунова, О.С., et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Скакунова, О.С., et al.
Veröffentlicht: (2015)
Особенности переходной ползучести под облучением
von: Диденко, Т.П., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Диденко, Т.П., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Влияние высокодозового облучения ионами N⁺ на кристаллическую структуру Y₂,₉₅La₀,₀₅Fe₅O₁₂
von: Фодчук, И.М., et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: Фодчук, И.М., et al.
Veröffentlicht: (2013)
Возможности диагностики нескольких типов дефектов кристалла на основе эффекта различного влияния дефектов разного типа на деформационную зависимость полной интегральной интенсивности динамической дифракции
von: Лизунов, В.В., et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Лизунов, В.В., et al.
Veröffentlicht: (2014)
Роль неоднородных деформаций и корреляции приповерхностных дефектов в скользящей дифракции рентгеновского излучения
von: Гаевский, А.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Гаевский, А.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2014)
Физическая природа и методические основы диагностики с использованием эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем
von: Молодкин, В.Б., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Молодкин, В.Б., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Изменение структуры и оптических свойств многослойных рентгеновских зеркал C/Si при нагреве
von: Журавель, И.А., et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: Журавель, И.А., et al.
Veröffentlicht: (2013)
Ґенерація дефектів поверхні Al(111) під впливом йонів Ar⁺ низької енергії
von: Васильєв, М.О., et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Васильєв, М.О., et al.
Veröffentlicht: (2014)
Влияние дислокационных петель на осевую теневую картину
von: Иванов, М.А., et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Иванов, М.А., et al.
Veröffentlicht: (2015)
Выбор модели реконструкции температурного поля для ультразвукового неразрушающего контроля замкнутой конструкции с односторонним доступом в нестационарных тепловых условиях
von: Михайловский, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Михайловский, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2015)
Теория многократного (динамического) рассеяния в некристаллических объектах
von: Лизунова, С.В., et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: Лизунова, С.В., et al.
Veröffentlicht: (2013)
Определение структурной неоднородности кристаллов по данным анализа картин Кикучи
von: Борча, М.Д., et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: Борча, М.Д., et al.
Veröffentlicht: (2013)
Статистична теоретична модель динамічної Бреґґової дифракції в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром
von: Дмітрієв, С.В., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Дмітрієв, С.В., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Ефекти повної багатократності дифузного розсіяння в кристалах з дефектами другого класу за Кривоглазом
von: Дмітрієв, С.В., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Дмітрієв, С.В., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований
von: Фодчук, И.М., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Фодчук, И.М., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Структурные и рентгено-оптические характеристики многослойных рентгеновских зеркал W/Si
von: Першин, Ю.П., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Першин, Ю.П., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Изменения структуры многослойных рентгеновских зеркал Zr/Mg с ростом толщины наноразмерных слоёв магния
von: Конотопский, Л.Е., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Конотопский, Л.Е., et al.
Veröffentlicht: (2017)
Моделювання та діягностика деформацій у приповерхневих шарах монокристалів ґадоліній-ґалієвого ґранату, імплантованих йонами F⁺
von: Коцюбинський, В.О., et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Коцюбинський, В.О., et al.
Veröffentlicht: (2014)
Эволюция структуры многослойных рентгеновских зеркал Si/Mg₂Si при термическом воздействии
von: Конотопский, Л.Е., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Конотопский, Л.Е., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Ähnliche Einträge
-
Interstrip resistance of a semiconductor microstrip detector
von: Kulibaba, V., et al.
Veröffentlicht: (2001) -
On the incoherent radiation of relativistic electrons and positrons in crystal
von: Shul’ga, N.F., et al.
Veröffentlicht: (2004) -
Мechanisms of luminescence of amorphus dielectrics exposed to high-energy electrons
von: Romanovsky, S.K., et al.
Veröffentlicht: (2018) -
Angular density of diffracted transition radiation generated in a composite target by a relativistic electron beam
von: Blazhevich, S.V., et al.
Veröffentlicht: (2017) -
Radiation from relativistic positrons during planar channeling in crystals
von: Boldyshev, V.F., et al.
Veröffentlicht: (2004)