Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом

Представлены результаты разработки аппаратно-программного комплекса для исследования диффузии в металлах и сплавах с использованием радиоактивных изотопов. Созданный комплекс может применяться как в научных, так и в учебно-методических целях. Представлені результати розробки апаратно-програмного к...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Вопросы атомной науки и техники
Datum:	2005
Hauptverfasser:	Азаренков, Н.А., Семененко, В.Е., Стервоедов, Н.Г., Подзолкова, В.В.
Format:	Artikel
Sprache:	Russian
Veröffentlicht:	Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2005
Schlagworte:	Облучательная техника и диагностика
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/80574
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом / Н.А. Азаренков, В.Е. Семененко, Н.Г. Стервоедов, В.В. Подзолкова // Вопросы атомной науки и техники. — 2005. — № 5. — С. 182-187. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-80574
record_format	dspace
spelling	Азаренков, Н.А. Семененко, В.Е. Стервоедов, Н.Г. Подзолкова, В.В. 2015-04-19T14:51:49Z 2015-04-19T14:51:49Z 2005 Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом / Н.А. Азаренков, В.Е. Семененко, Н.Г. Стервоедов, В.В. Подзолкова // Вопросы атомной науки и техники. — 2005. — № 5. — С. 182-187. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. 1562-6016 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/80574 548.526: 669.018 Представлены результаты разработки аппаратно-программного комплекса для исследования диффузии в металлах и сплавах с использованием радиоактивных изотопов. Созданный комплекс может применяться как в научных, так и в учебно-методических целях. Представлені результати розробки апаратно-програмного комплексу для дослідження дифузії в металах та сплавах з використанням радіоактивних ізотопів. Створений комплекс може використовуватися як в наукових так і в учбово- методичних цілях. There is a results of development hardware and software complex for research of diffusion in metals and alloys with use of radioactive isotopes are presented. The created complex may be used both in scientific, and in the methodical purposes. ru Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України Вопросы атомной науки и техники Облучательная техника и диагностика Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом Дослідницький комплекс для вивчення процесів дифузії в металах та сплавах радіоактивним методом The research complex for studying processes of diffusion in metals and alloys by radioactive method Article published earlier
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
title	Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом
spellingShingle	Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом Азаренков, Н.А. Семененко, В.Е. Стервоедов, Н.Г. Подзолкова, В.В. Облучательная техника и диагностика
title_short	Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом
title_full	Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом
title_fullStr	Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом
title_full_unstemmed	Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом
title_sort	исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом
author	Азаренков, Н.А. Семененко, В.Е. Стервоедов, Н.Г. Подзолкова, В.В.
author_facet	Азаренков, Н.А. Семененко, В.Е. Стервоедов, Н.Г. Подзолкова, В.В.
topic	Облучательная техника и диагностика
topic_facet	Облучательная техника и диагностика
publishDate	2005
language	Russian
container_title	Вопросы атомной науки и техники
publisher	Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
format	Article
title_alt	Дослідницький комплекс для вивчення процесів дифузії в металах та сплавах радіоактивним методом The research complex for studying processes of diffusion in metals and alloys by radioactive method
description	Представлены результаты разработки аппаратно-программного комплекса для исследования диффузии в металлах и сплавах с использованием радиоактивных изотопов. Созданный комплекс может применяться как в научных, так и в учебно-методических целях. Представлені результати розробки апаратно-програмного комплексу для дослідження дифузії в металах та сплавах з використанням радіоактивних ізотопів. Створений комплекс може використовуватися як в наукових так і в учбово- методичних цілях. There is a results of development hardware and software complex for research of diffusion in metals and alloys with use of radioactive isotopes are presented. The created complex may be used both in scientific, and in the methodical purposes.
issn	1562-6016
url	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/80574
citation_txt	Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом / Н.А. Азаренков, В.Е. Семененко, Н.Г. Стервоедов, В.В. Подзолкова // Вопросы атомной науки и техники. — 2005. — № 5. — С. 182-187. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
work_keys_str_mv	AT azarenkovna issledovatelʹskiikompleksdlâizučeniâprocessovdiffuziivmetallahisplavahradioaktivnymmetodom AT semenenkove issledovatelʹskiikompleksdlâizučeniâprocessovdiffuziivmetallahisplavahradioaktivnymmetodom AT stervoedovng issledovatelʹskiikompleksdlâizučeniâprocessovdiffuziivmetallahisplavahradioaktivnymmetodom AT podzolkovavv issledovatelʹskiikompleksdlâizučeniâprocessovdiffuziivmetallahisplavahradioaktivnymmetodom AT azarenkovna doslídnicʹkiikompleksdlâvivčennâprocesívdifuzíívmetalahtasplavahradíoaktivnimmetodom AT semenenkove doslídnicʹkiikompleksdlâvivčennâprocesívdifuzíívmetalahtasplavahradíoaktivnimmetodom AT stervoedovng doslídnicʹkiikompleksdlâvivčennâprocesívdifuzíívmetalahtasplavahradíoaktivnimmetodom AT podzolkovavv doslídnicʹkiikompleksdlâvivčennâprocesívdifuzíívmetalahtasplavahradíoaktivnimmetodom AT azarenkovna theresearchcomplexforstudyingprocessesofdiffusioninmetalsandalloysbyradioactivemethod AT semenenkove theresearchcomplexforstudyingprocessesofdiffusioninmetalsandalloysbyradioactivemethod AT stervoedovng theresearchcomplexforstudyingprocessesofdiffusioninmetalsandalloysbyradioactivemethod AT podzolkovavv theresearchcomplexforstudyingprocessesofdiffusioninmetalsandalloysbyradioactivemethod
first_indexed	2025-11-25T23:07:22Z
last_indexed	2025-11-25T23:07:22Z
_version_	1850578026275799040
fulltext	РАЗДЕЛ ПЯТЫЙ ОБЛУЧАТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА И ДИАГНОСТИКА УДК 548.526: 669.018 ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ПРОЦЕССОВ ДИФФУЗИИ В МЕТАЛЛАХ И СПЛАВАХ РАДИОАК ТИВНЫМ МЕТОДОМ Н.А. Азаренков, В.Е. Семененко, Н.Г. Стервоедов, В.В. Подзолкова Харьковский национальный университет им. В.Н. Каразина, г. Харьков, Украина Представлены результаты разработки аппаратно-программного комплекса для исследования диффузии в металлах и сплавах с использованием радиоактивных изотопов. Созданный комплекс может применяться как в научных, так и в учебно-методических целях. Данные по параметрам диффузии необходимы для решения вопросов, связанных со структурой, со ставом и свойствами используемых и вновь синтези руемых материалов, в том числе металлов и спла вов, применяемых в атомной энергетике. Методы изучения диффузии с использованием радиоактив ных изотопов уникальны по чувствительности, точности, экспрессивности, информативности и имеют несомненное преимущество перед остальны ми методами [1-6]. Аппаратура для исследования диффузии, создан ная ранее, в настоящее время не удовлетворяет всем современным требованиям. Поэтому представляется интересной и актуальной разработка новых исследо вательских компьютерных приборов и установок для этой цели, что и составляет основную задачу на стоящей работы. В статье приведены результаты разработки аппа ратно-программного комплекса для исследования диффузии и самодиффузии с использованием радио активных изотопов. При его создании использован богатый опыт исследований, проводимых ранее в ХГУ и ННЦ ХФТИ (В.И. Иванов, А.М. Блинкин, И.Г. Иванцов, В.М. Амоненко и др.). Учтены также основные требования, предъявляе мые к современному физическому эксперименту. 1. АППАРАТУРА И МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА Измерительный комплекс включает в себя аппа ратную составляющую – установку, содержащую сцинтилляционный радиометр-спектрометр, систе му питания и стабилизации измерительного тракта, микроконтроллерный модуль управления и обмена данными с компьютером, – и программную состав ляющую. Программное обеспечение комплекса со держит драйверы обмена данными и пользователь ские программы, которые позволяют в диалоговом режиме измерять активность J образцов с учетом энергетического спектра используемых радионукли дов, задавать время экспозиции Tэкс с необходимой статистической точностью измерений, вычислять энергию активации диффузии Q, предэкспоненци альный множитель Dо, представлять данные экспе римента в табличном или графическом виде. _________________________________________________________________________________ ВОПРОСЫ АТОМНОЙ НАУКИ И ТЕХНИКИ. 2005. №5. Серия: Физика радиационных повреждений и радиационное материаловедение (88), с.182-187. 182 Рис. 1. Структурная схема установки Программная часть содержит также базы данных радиоизотопов, коэффициентов диффузии, коэффи циентов поглощения излучений веществом, таблицы значений основных функций, методические руко водства и указания по проведению измерений и вы числений параметров диффузии. 1.1. СХЕМА УСТАНОВКИ Структурная схема разработанной установки приведена на рис.1. Установка состоит из измери тельного модуля, регистрирующего ионизирующее излучение, электронного микроконтроллерного бло ка для усиления и преобразования сигналов и управ ляющего компьютера. Установка работает в нескольких основных режимах, реализующих раз личные методы измерения параметров диффузии. В первом счетном режиме излучение с исследуе мого образца регистрируется одним сцинтиллято ром и фотоэлектронным умножителем (ФЭУ1). По сле усиления в предварительном усилителе (ПУ1) сигналы, представляющие собой совокупность по лезной информации и шумовых импульсов фото электронного умножителя, подаются на интеграль ный дискриминатор (ИД1), на второй вход которого подается пороговое напряжение Uп1. На выходе ин тегрального дискриминатора формируются стан дартные счетные импульсы, если амплитуда вход ных сигналов превышает установленный порог сра батывания дискриминатора. Эти счетные импульсы для определения активности образца J подсчитыва ются электронным счетчиком, который программно встроен в микроконтроллер (МК). В микроконтрол лере также программно реализован таймер, задаю щий время экспозиции Tэкс. Данные об активности образца через устройство согласования логических уровней (СУ) в стандарте RS232C передаются в управляющий компьютер установки. Порог сраба тывания дискриминатора подбирается эксперимен тально для максимального устранения шумовых им пульсов ФЭУ. При этом, естественно, теряется и часть полезной информации. Однако потерянные данные можно восстановить расчетным путем, зная форму кривой, описывающей энергетическое рас пределение излучения используемого изотопа и зна чение порога дискриминации. В описанном режиме работы установки реализу ются измерения параметров диффузии всеми разно видностями метода снятия слоев и методами погло щения (абсорбционными) с известным коэффициен том поглощения изучения μ материалом матрицы. Вычисление коэффициентов диффузии при изо термическом отжиге с использованием метода сня тия слоев и определения распределения активного элемента в глубь образца измерением интегральной активности Ji после каждого снятого слоя произво дится по известной формуле [1]: D=−0 .1086 tg α⋅t , (1) где t – длительность диффузионного отжига, а зна чение тангенса угла наклона tgα определяется из графика экспериментально устанавливаемой зависи мости логарифма концентрации радиоактивных изо топов lgJ от квадрата глубины диффузионного слоя x2. При использовании абсорбционного метода с из вестным коэффициентом поглощения изучения μ материалом матрицы вычисления проводятся по формуле J t J 0 =exp  z2 1 −erf z  , (2) где 2 2z Dtµ= . Если используются короткоживу щие изотопы, то тогда вводятся поправки на распад Φ  z = J t J 0 exp−λt  , (3) где λ – постоянная распада. Экспериментально опре деляется отношение интенсивностей ( )zΦ , вычис ляется z Dtµ= , а затем и коэффициент диффу зии D . При необходимости, на установке (см. рис. 1) ме тодом фильтров можно определить коэффициент поглощения μ: 0 exp ( )xJ J xµ= − , (4) где x – толщина поглощающего фильтра; xJ – ин тенсивность излучения с поглотителем; 0J – ин тенсивность излучения без поглотителя. Во втором счетном режиме излучение с исследу емого образца регистрируется одновременно двумя сцинтилляторами и фотоэлектронными умножителя ми (ФЭУ1, ФЭУ2). В этом случае можно реализо вать метод поглощения с неизвестным коэффициен том поглощения изучения μ материалом матрицы. Для этого после диффузионного отжига измеряется интенсивность излучения с одной ( 1J ) и с другой ( 2J ) стороны образца. Значение коэффициента диф фузии определяется из соотношения 2 1 2 2 1 2 lg lgJ J DA t J J l π − = − +  , (5) где A – постоянная, связанная с поглощением; l – толщина образца. Коэффициент диффузии находит ся из графика зависимости 1 2 1 2 lg J J J J  −  +  от време ни диффузионного отжига. В этом случае коэффи циент диффузии также определяется из соотноше ния: 2 2 lD tg α π = . (6) _________________________________________________________________________________ ВОПРОСЫ АТОМНОЙ НАУКИ И ТЕХНИКИ. 2005. №5. Серия: Физика радиационных повреждений и радиационное материаловедение (88), с.182-187. 183 Определено, что рассматриваемый режим приме ним для β-активных индикаторов и индикаторов со слабым рентгеновским излучением. В третьем режиме установка может работать как сцинтилляционный спектрометр, предназначенный для изучения энергетических спектров используе мых радионуклидов. Для этого в схему установки введен спектрометрический усилитель и спектро метрический десятиразрядный аналого-цифровой преобразователь. Для учета космического фона при измерении ма лоактивных образцов в схему установки введен мо дуль антисовпадений (САС). При одновременном срабатывании двух детекторов и дискриминаторов – случай регистрации космической частицы – сигналы от интегральных дискриминаторов блокируются схемой совпадений и счетчиком не подсчитываются. 1.2. ПРИНЦИПИАЛЬНАЯ СХЕМА ИЗМЕРИТЕЛЬНОГО КОНТРОЛЛЕРА Основным узлом аппаратной части комплекса является универсальный измерительный контрол лер, аналогичный используемому в работе[7], прин ципиальная схема которого приведена на рис. 2. Основным элементом схемы является микро контроллер АТ89С51, совместимый по командам и архитектуре с семейством Intel 8051. Микро контроллер имеет три параллельных двунаправлен ных порта ввода/вывода данных, два последователь ных порта, два программируемых счетчика-таймера с несколькими режимами работы, внутренний буфер на 128 байт и энергонезависимую память программ объемом 4 Кбайт. В состав контроллера входит также 10-разряд ный аналого-цифровой преобразователь последова тельного типа AD7810 для преобразования в цифро вые коды аналоговых сигналов, поступающих на него с 8-канального коммутатора КР590КН6 через прецизионный буферный усилитель К140УД17А. Контроллер имеет автономную динамическую инди кацию принимаемых данных, клавиатуру управле ния, с которой задаются режимы работы прибора и поле дискретных датчиков информации. 8-разряд ный регистр КР1533ИР22, транзисторные и тири сторные ключи введены в схему для управления циклами работы установки и линейной стабилиза ции ее режимов. Для двухстороннего обмена данными с управ ляющим компьютером TTL-уровни процессора преобразуются в уровни стандарта RS-232C микро схемой MAX232. 2. ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ Программная составляющая комплекса состоит из программы микроконтроллера и программного обеспечения (ПО) управляющего компьютера. ПО управляющего компьютера включает в себя стан дартные пакеты программ и несколько авторских программных модулей, объединенных в автоматизи рованное рабочее место (АРМ). _________________________________________________________________________________ ВОПРОСЫ АТОМНОЙ НАУКИ И ТЕХНИКИ. 2005. №5. Серия: Физика радиационных повреждений и радиационное материаловедение (88), с.182-187. 184 1 2 4 1 2 3 4 6 8 9 D F 0 A E B7 C 1 2 3 4 .. .. .. .. IN0 IN7 +12 -12 +5 +5 +5 RxD TxD 1,0 +12 +5 +5 +5 3 3 4 8 .. .. . +5 +5 +5 +5 4xKT626A 4xAAS324B 20K 100K 18K 6,8K KP 30 3D + 4,7 50K RESET 27p 27p 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 1,0 100 5 5 6 7 8 a b c d e f g +5 +5 +12 -12 KS 19 1F KR 14 0U D1 7A 8 MHz 1K 1K 3,3K2,2K 3,3K 3,3K 3,3K 3,3K 3,3K 3,3K 100 1,0 100 100 KR 59 0K N6 I0 4 I1 5 I2 6 A2 15 A1 16 CS 2 G 14 D0 3 I3 7 I4 12 I5 11 U2 13 I6 10 I7 9 A0 1 U1 3 AT 89 C5 1 P101 P11 2 P12 3 P13 4 P14 5 P15 6 P16 7 P17 8 RxD 10 TxD 11 INT0 12 INT1 13 T0 14 T1 15 WR 16 RD 17 X1 19 X2 20 RST 9 GND 20 P00 39 P01 38 P02 37 P03 36 P04 35 P05 34 P06 33 P07 32 P20 21 P21 22 P22 23 P23 24 P24 25 P25 26 P26 27 P27 28 PSEN 29 ALE 30 EA 31 VCC 40 KR 55 5I D1 0 A0 15 A1 14 A2 13 A4 12 U 16 G 8 0 1 6 7 1 2 2 3 3 4 4 5 5 6 7 9 8 10 9 11 MA X2 32 R1out 12 C1+ 1 U- . C1- 3 U 16 U+ . T2out 14 R2in 13T1in 11 G 15 C2+ 4 C2- 5 AD 78 10-Uin 2 +Uin 3 clk 7 Uop5 G 4 U 8 D0 6 St 16 KR 15 33 ID 22 D0 3 D1 4 D2 7 D3 8 D4 13 D5 14 D6 17 D7 18 E 1 C 11 Q0 2 Q1 5 Q2 6 Q3 9 Q4 12 Q5 15 Q6 18 Q7 19 U 20 G 10 KR 51 4I D2 1 5 2 1 4 2 8 4 U 14 G 6 B 3 a 11 b 10 c 9 d 8 e 7 f 13 g 12 + -3 4 7 5 1 28 Рис. 2. Принципиальная схема контроллера Программа микроконтроллера непосредственно обеспечивает функционирование аппаратной части комплекса, производит оцифровку поступающих с детекторов сигналов, их предварительную обра ботку, автономную индикацию, стабилизирует вы соковольтное питание ФЭУ, контролирует пороги срабатывания дискриминаторов и осуществляет об мен данными с управляющим компьютером. Как отмечалось, программное обеспечение управляющего компьютера содержит программные модули, позволяющие в интерактивном режиме определять параметры диффузии, экспортировать данные в программные пакеты обработки и визуали зации, представлять данные эксперимента в таблич ном или графическом виде (рис. 3). На рис. 4 показана одна из виртуальных панелей управления комплексом, реализованная в программ ном пакете LabVIEW. В этом же пакете реализованы драйверы обмена данными, программы многока нального амплитудного анализатора, программы предварительной обработки информации и другие авторские программы. АРМ содержит базу данных радиоизотопов «Jefpc», базы данных коэффициентов диффузии, коэффициентов поглощения излучений веществом, таблицы значений основных функций, методические руководства и указания по проведе нию измерений и вычислений параметров диффузии с использованием программы «Origin 7». Были про ведены контрольные измерения параметров диффу зии методом поглощения на электролитической меди и монокристаллическом никеле. Полученные результаты, показанные на рис. 5, хорошо согласу ются с данными, приведенными в работах [1,6,7]. _________________________________________________________________________________ ВОПРОСЫ АТОМНОЙ НАУКИ И ТЕХНИКИ. 2005. №5. Серия: Физика радиационных повреждений и радиационное материаловедение (88), с.182-187. 185 Рис. 3. Вычисление коэффициента диффузии методом поглощения _________________________________________________________________________________ ВОПРОСЫ АТОМНОЙ НАУКИ И ТЕХНИКИ. 2005. №5. Серия: Физика радиационных повреждений и радиационное материаловедение (88), с.182-187. 186 Рис. 4. Виртуальная панель управления комплексом для исследования диффузии в режиме многоканаль ного амплитудного анализатора и измерения интенсивности _________________________________________________________________________________ ВОПРОСЫ АТОМНОЙ НАУКИ И ТЕХНИКИ. 2005. №5. Серия: Физика радиационных повреждений и радиационное материаловедение (88), с.182-187. 187 Рис. 5. Представление результатов эксперимента по исследованию диффузии 63Ni методом поглощения ВЫВОДЫ Разработан компьютерный исследовательский аппаратно-программный комплекс для изучения диффузии радиоактивным методом с использовани ем современных электронных средств и программ ных пакетов. Созданная установка позволяет изме рять энергетические спектры радионуклидов и в раз личных оптимально выбранных режимах опреде лять параметры диффузии в металлах и сплавах как методом снятия слоев, так и абсорбционными мето дами. Проведены контрольные измерения параметров диффузии Ni63 в монокристаллический никель и медь, результаты которых согласуются с имеющи мися литературными данными. В дальнейшем в базовый состав комплекса пла нируется ввести аппаратно-программные элементы дистанционного доступа и Веб-автоматизации, что позволит расширить область его применения в науч ных и учебно-методических целях. ЛИТЕРАТУРА 1.С.Д. Герцрикен, И.Я. Дехтяр. Диффузия в металах и сплавах в твердой фазе. М.: «Физматгиз», 1960, 434 с. 2.В.Е. Семененко, М.А. Тихоновский. Диффузия ра диоактивного никеля в гетерофазных материалах с контролируемой микроструктурой //ВАНТ. Серия: «Физика радиационных повреждений и радиаци онное материаловедение». 1998, в. 3(69), 4(80), с. 151–152. 3.Д.С.Герцрикен, В.Ф. Мазанко, В.М. Тышкевич. Влияние ионной бомбардировки металлов в тлею щем разряде на миграцию собственных и примесных атомов //Металлофизика и новейшие технологии. 2003, т. 25, № 5, с. 621–633. 4.Прогресивні матеріали і технології. Т. 2, Київ: «Академперіодика», 2003, 652 с. 5.Yu. Mushin, Ch. Herring. Profile penetration diffusion on grain boundaries in different mechanism //J. Appl. Phys. 1993, v. 73, N12, p. 8206–8211. 6.С.З. Бокштейн, С.С. Гинзбург, С.Т. Кишки. Авторадиография поверхностей раздела и структурная стабильность сплава, М: «Металу ргия», 1987, 284с. 7.А.Г. Гугля, Ю.А. Марченко, М.Ю. Силкин, С.Н. Стервоедов //Вісник Харківського універси тету. Серія фізична: «Ядра, частинки, поля». 2001, №510, в. 1(13), с. 94–98. 8.В.Е. Семененко, Г.П. Ковтун. Прочностные и диф фузионные характеристики ламелярной эвтектиче ской композиции Ni–Ni3B //Вісник Харків-ського університету. Серія фізична «Ядра, частинки, поля». 2001, №510, в. 1(13), с. 79–82. THE RESEARCH COMPLEX FOR STUDYING PROCESSES OF DIFFUSION IN METALS AND ALLOYS BY RADIOACTIVE METHOD N. Azarenkov, V. Semenenko, N. Stervoyedov, V. Podzolkova There is a results of development hardware and software complex for research of diffusion in metals and alloys with use of radioactive isotopes are presented. The created complex may be used both in scientific, and in the methodical purposes. ДОСЛІДНИЦЬКИЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ ВИВЧЕННЯ ПРОЦЕСІВ ДИФУЗІЇ В МЕТАЛАХ ТА СПЛАВАХ РАДІОАКТИВНИМ МЕТОДОМ М.О. Азарєнков, В.Є. Семененко, М.Г. Стєрвоєдов, В.В. Подзолкова Представлені результати розробки апаратно-програмного комплексу для дослідження дифузії в металах та сплавах з використанням радіоактивних ізотопів. Створений комплекс може використовуватися як в наукових так і в учбово- методичних цілях. _________________________________________________________________________________ ВОПРОСЫ АТОМНОЙ НАУКИ И ТЕХНИКИ. 2005. №5. Серия: Физика радиационных повреждений и радиационное материаловедение (88), с.182-187. 188

Исследовательский комплекс для изучения процессов диффузии в металлах и сплавах радиоактивным методом

Institution

Ähnliche Einträge