Рентгеноструктурные исследования силицированных материалов на пироуглеродной связке и на основе графита mарки ЭГ–0
Применительно к исследованию силицированных графитовых материалов разработано методологическое дополнение к количественному анализу бинарного фазового состава материалов по интенсивностям линий рентгеновских отражений. Учитываются различия в коэффициентах поглощения рентгеновских лучей фазовыми сост...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Дата: | 2005 |
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2005
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/80582 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Рентгеноструктурные исследования силицированных материалов на пироуглеродной связке и на основе графита mарки ЭГ–0 / В.А. Гурин, И.В. Гурин, Г.П.Ковтун, Д.Г. Малыхин, А.Н. Буколов // Вопросы атомной науки и техники. — 2005. — № 5. — С. 54-57. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |