Применение нейросетевых технологий для повышения достоверности оценок параметров перемещения неплоских элементов конструкций - Дробахин, О.О.; Доронин, А.В. (Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2009)
С целью получения достоверных значений параметров перемещения объектов с неплоской поверхностью
с помощью интерференционного СВЧ-метода на основе трехзондовых измерителей использованы
нейросетевые технологии. На базе данного метода была поставлена серия реальных экспериментов.
Квадратичность характеристик детекторов обеспечивалась применением калибровки с использованием
разработанной математической модели нейронной сети. Применение интерференционного метода
СВЧ-измерений в сочетании с нейросетевыми технологиями позволило определять параметры перемещения
контролируемого объекта с высокой точностью. З метою отримання достовірних значень параметрів переміщення об’єктів з неплоскою поверхнею за
допомогою інтерференційного НВЧ-методу на основі тризондових вимірювачів були використані
нейромережні технології. На базі даного методу була поставлена серія реальних експериментів.
Квадратичність характеристик детекторів забезпечувалася застосуванням калібрування з використанням
розробленої математичної моделі нейронної мережі. Застосування інтерференційного методу
НВЧ-вимірювань в поєднанні з нейромережними технологіями дозволило визначати параметри
переміщення контрольованого об’єкта з високою точністю. With the purpose to obtain the reliable values of parameters of moving objects with an non-planar surface by an
interference microwave method on the basis of three-probes measuring devices the neural network technologies were
used. On the base of this method the series of the real experiments were put. Quadratic detectors descriptions were
provided by using calibration with the developed neuron network mathematical model. Application of interference
method of the microwave measuring in combination with neural network technologies allowed to determine the
displacement of controlled object parameters with high exactness.