Смещение комптоновского пика при увеличении содержания углерода в стали
Разработана светосильная рентгенооптическая схема измерений комптоновского рассеяния с применением флуоресцентного источника излучения и рентгеновской трубки с прострельным анодом. В стандартных образцах низколегированной стали выявлено монотонное смещение (в пределах 70 эВ) комптоновского пика в ст...
Saved in:
| Published in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Date: | 2006 |
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2006
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/81333 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Смещение комптоновского пика при увеличении содержания углерода в стали / И.Ф. Михайлов, А.А. Батурин, Л.П. Фомина // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 1. — С. 103-105. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | Разработана светосильная рентгенооптическая схема измерений комптоновского рассеяния с применением флуоресцентного источника излучения и рентгеновской трубки с прострельным анодом. В стандартных образцах низколегированной стали выявлено монотонное смещение (в пределах 70 эВ) комптоновского пика в сторону рэлеевского по мере увеличения содержания углерода от 0,03 до 1,1 мас.%. Величина смещения может служить количественным критерием содержания легкой примеси в тяжелой матрице.
Розроблена світосильна рентгенооптична схема вимірювань комптонівського розсіювання із
застосуванням флуоресцентного джерела випромінювання та рентгенівської трубки з прострільним анодом.
В стандартних зразках низьколегованої сталі виявлено монотонне зміщення (у межах 70 еВ)
комптонівського піку у бік релеївського з підвищенням вмісту вуглецю від 0,03 до 1,1 мас.%. Величина
зміщення може служити кількісним критерієм вмісту легкої домішки у важкий матриці.
Luminous powerful X-ray optic scheme with fluorescent source and X-ray tube with transmitted target for Compton
scattering have been worked out. In standard samples of low-alloy steel, monotonic shift (about 70 eV) of Compton
peak to Reyleigh peak side with carbon concentration increase from 0.03 to 1.1 wt.% was revealed. The shift value
may be considered a quantitative criterion of light impurity content in heavy matrix.
|
|---|---|
| ISSN: | 1562-6016 |