Смещение комптоновского пика при увеличении содержания углерода в стали

Разработана светосильная рентгенооптическая схема измерений комптоновского рассеяния с применением флуоресцентного источника излучения и рентгеновской трубки с прострельным анодом. В стандартных образцах низколегированной стали выявлено монотонное смещение (в пределах 70 эВ) комптоновского пика в ст...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2006
Автори: Михайлов, И.Ф., Батурин, А.А., Фомина, Л.П.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2006
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/81333
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Смещение комптоновского пика при увеличении содержания углерода в стали / И.Ф. Михайлов, А.А. Батурин, Л.П. Фомина // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 1. — С. 103-105. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Разработана светосильная рентгенооптическая схема измерений комптоновского рассеяния с применением флуоресцентного источника излучения и рентгеновской трубки с прострельным анодом. В стандартных образцах низколегированной стали выявлено монотонное смещение (в пределах 70 эВ) комптоновского пика в сторону рэлеевского по мере увеличения содержания углерода от 0,03 до 1,1 мас.%. Величина смещения может служить количественным критерием содержания легкой примеси в тяжелой матрице. Розроблена світосильна рентгенооптична схема вимірювань комптонівського розсіювання із
 застосуванням флуоресцентного джерела випромінювання та рентгенівської трубки з прострільним анодом.
 В стандартних зразках низьколегованої сталі виявлено монотонне зміщення (у межах 70 еВ)
 комптонівського піку у бік релеївського з підвищенням вмісту вуглецю від 0,03 до 1,1 мас.%. Величина
 зміщення може служити кількісним критерієм вмісту легкої домішки у важкий матриці. Luminous powerful X-ray optic scheme with fluorescent source and X-ray tube with transmitted target for Compton
 scattering have been worked out. In standard samples of low-alloy steel, monotonic shift (about 70 eV) of Compton
 peak to Reyleigh peak side with carbon concentration increase from 0.03 to 1.1 wt.% was revealed. The shift value
 may be considered a quantitative criterion of light impurity content in heavy matrix.
ISSN:1562-6016