Matveeva, L., Vanger, E., & Holiney, R. (1999). Electron beam application for mechanical stress relaxation and for SI-SIO₂ interface structural regulation. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationMatveeva, L.A, E.F Vanger, and R.Yu Holiney. Electron Beam Application for Mechanical Stress Relaxation and for SI-SIO₂ Interface Structural Regulation. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 1999.
MLA (8th ed.) CitationMatveeva, L.A, et al. Electron Beam Application for Mechanical Stress Relaxation and for SI-SIO₂ Interface Structural Regulation. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 1999.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.