Повышение уровня когерентности рентгеновского излучения при его рассеянии идеальным кристаллом
Рассматривается возможность выделения когерентной составляющей из пучка рентгеновского излучения падающего на кристалл. Получены уравнения и рассмотрена общая задача эволюции корреляционной функции при рассеянии рентгеновского излучения на идеальном кристалле в схеме Лауэ. Показано, что наличие крис...
Gespeichert in:
| Datum: | 2000 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2000
|
| Schriftenreihe: | Вопросы атомной науки и техники |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/81672 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Повышение уровня когерентности рентгеновского излучения при его рассеянии идеальным кристаллом / В.А. Буц, А.В. Буц, И.К. Ковальчук // Вопросы атомной науки и техники. — 2000. — № 1. — С. 212-216. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Рассматривается возможность выделения когерентной составляющей из пучка рентгеновского излучения падающего на кристалл. Получены уравнения и рассмотрена общая задача эволюции корреляционной функции при рассеянии рентгеновского излучения на идеальном кристалле в схеме Лауэ. Показано, что наличие кристалла позволяет существенно увеличить степень поперечной когерентности излучения. Исследовано влияние дефектов на степень когерентности рентгеновского излучения в кристалле. Получены выражения для когерентных компонент и для вторых моментов. Получено выражение для длины, на которой когерентное излучение под влиянием дефектов преобразуется в некогерентное. |
|---|