Effects of long-term ion bombardment on some optical properties of Rh film mirrors and bulk polycrystalline mirrors

The method is suggested for statistical analyzing the surface structure in cases when the spatial size of structure is not negligibly small in comparison with the size of an area to be analyzed. The method is applied to Rh film mirrors subjected to sputtering by ions of deuterium plasma. The r.m.s...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Вопросы атомной науки и техники
Date:2006
Main Authors: Bondarenko, V.N., Bardamid, A.F., Voitsenya, V.S., Konovalov, V.G., Kulyk, S.P., Solodovchenko, S.I., Yakimov, K.I., Dobrotvorskaya, M.V.
Format: Article
Language:English
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2006
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/81788
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Effects of long-term ion bombardment on some optical properties of Rh film mirrors and bulk polycrystalline mirrors / V.N. Bondarenko, A.F. Bardamid, V.S. Voitsenya, V.G. Konovalov, S.P. Kulyk, S.I. Solodovchenko, K.I. Yakimov, M.V. Dobrotvorskaya // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 6. — С. 80-83. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:The method is suggested for statistical analyzing the surface structure in cases when the spatial size of structure is not negligibly small in comparison with the size of an area to be analyzed. The method is applied to Rh film mirrors subjected to sputtering by ions of deuterium plasma. The r.m.s. heights quantities are defined from STM and from reflectance in the range 250…650 nm. The irregularities height distributions and the spatial length spectra are studied. The data are compared with those for bulk Cu, SS and Mo polycrystalline mirrors tested in similar conditions. Предложен метод статистического анализа поверхностной структуры в случаях, когда ее пространственный размер не является пренебрежимо малым в сравнении с размером анализируемой области. Метод применяется для пленочных Rh зеркал, распыленных ионами дейтериевой плазмы. Среднеквадратичные величины высот определялись по данным СТМ и коэффициента отражения в диапазоне длин волн 250...650 нм. Вычислены распределения высот неровностей и спектры длин пространственных неоднородностей. Результаты сравниваются с полученными для массивных поликристаллических зеркал из Cu, нержавеющей стали и Mo, распыленных в подобных условиях. Запропоновано метод статистичного аналізу поверхневої структури у випадках, коли просторовий розмір структури не є нехтовно малим порівняно з розміром аналізованої області. Метод застосовується для плівкових Rh дзеркал, що були розпилені іонами дейтерієвої плазми. Середньоквадратичні величини висот визначалися за даними СТМ і коефіцієнта відбиття в діапазоні довжин хвиль 250...650 нм. Обчислені розподіли висот нерівностей і спектри довжин просторових неоднорідностей. Результати порівнюються з даними, отриманими для масивних полікристалічних дзеркал з Cu, неіржавіючої сталі і Mo, розпилених в подібних умовах.
ISSN:1562-6016