Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени

• Date: 2009
• Main Authors: Кутаев, Ю.Ф., Тимченко, Л.И., Кокряцкая, Н.И., Губернаторов, В.А., Поплавский, А.А.
• Format: Article
• Language: Russian
• Published: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2009
• Subjects: Распознавание образов. Цифровая обработка сигналов
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/8194
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени / Ю.Ф. Кутаев, Л.И. Тимченко, Н.И. Кокряцкая, В.А. Губернаторов, А.А. Поплавский // Штучний інтелект. — 2009. — № 4. — С. 548-554. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

В статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени.
 Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки
 дальнейших изображений. У статті розглядається проблема контролю форми поверхні плями випромін...