Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests
The controlling system for detector silicon and for a double-sided microstrip detectors (DSMD) characteristics tests is described.
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| Veröffentlicht in: | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Datum: | 2000 |
| Hauptverfasser: | , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2000
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/82268 |
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| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests / A.A. Kaplij, V.I. Kulibaba, P. Kuijer, N.I. Maslov, V.D. Ovchinnik, S.M. Potin, A.F. Starodubtsev // Вопросы атомной науки и техники. — 2000. — № 2. — С. 41-45. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. |
Institution
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