Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests

• Datum: 2000
• Hauptverfasser: Kaplij, A.A., Kulibaba, V.I., Kuijer, P., Maslov, N.I., Ovchinnik, V.D., Potin, S.M., Starodubtsev, A.F.
• Format: Artikel
• Sprache: English
• Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2000
• Schriftenreihe: Вопросы атомной науки и техники
• Schlagworte: Еxperimental methods
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/82268
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests / A.A. Kaplij, V.I. Kulibaba, P. Kuijer, N.I. Maslov, V.D. Ovchinnik, S.M. Potin, A.F. Starodubtsev // Вопросы атомной науки и техники. — 2000. — № 2. — С. 41-45. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

The controlling system for detector silicon and for a double-sided microstrip detectors (DSMD) characteristics tests is described.