Экспериментальная оценка надежности изделий в условиях малого числа отказов

Представлены результаты анализа существующих методов и методик экспериментальной оценки показателей надежности. Рассматриваются методики оценки показателей надежности в условиях малой статистики отказов на основе использования двухпараметрических вероятностно-физических моделей надежности (диффузион...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Математичні машини і системи
Datum:2011
1. Verfasser: Стрельников, П.В.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут проблем математичних машин і систем НАН України 2011
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/83404
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Экспериментальная оценка надежности изделий в условиях малого числа отказов / П.В. Стрельников // Мат. машини і системи. — 2011. — № 1. — С. 141-146. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Представлены результаты анализа существующих методов и методик экспериментальной оценки показателей надежности. Рассматриваются методики оценки показателей надежности в условиях малой статистики отказов на основе использования двухпараметрических вероятностно-физических моделей надежности (диффузионных распределений). Представлено результати аналізу існуючих методів і методик експериментальної оцінки показників надійності. Розглядаються методики оцінки показників надійності в умовах малої статистики відмов на основі використання двопараметричних імовірнісно-фізичних моделей надійності (дифузійних розподілів). The results of the analysis of existing methods and techniques of experimental reliability evaluation are presented. Methodologies for the assessment of reliability in low failure statistics based on the use of two-parameter probabilistic-physical models of reliability (diffusion distributions) are considered.
ISSN:1028-9763