Оценка ресурса изделий электронной техники

Представлены методики оценки средней наработки до отказа изделий электронной техники (MTTF) на основе использования -распределения для различных экспериментальных и справочных данных о надежности: интенсивности отказов, вероятности отказов, минимальной наработки, величины FIT. Отмечается, что прогн...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2004
Автор: Стрельников, В.П.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут проблем математичних машин і систем НАН України 2004
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/83899
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Оценка ресурса изделий электронной техники / В.П. Стрельников // Мат. машини і системи. — 2004. — № 2. — С. 186-195. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Представлены методики оценки средней наработки до отказа изделий электронной техники (MTTF) на основе использования -распределения для различных экспериментальных и справочных данных о надежности: интенсивности отказов, вероятности отказов, минимальной наработки, величины FIT. Отмечается, что прогнозные оценки MTTF на основе экспоненциального распределения завышены в 70-500 раз по сравнению с аналогичными оценками на основе DN-распределения. Представлено методики оцінки середнього наробітку до відмови виробів електронної техніки (MTTF) на основі використання DN-розподілу для різних експериментальних та довідкових даних про надійність: інтенсивності відмов, імовірності відмов, мінімального наробітку, величини FIT. Відмічається, що прогнозовані оцінки MTTF на основі експоненціального розподілу завищені в 70-500 разів у порівнянні з аналогічними оцінками на підставі DN-розподілу. Methods of an estimation of an average operating time to failure of products of electronic techniques (MTTF) are submitted on the basis of use DN-distribution for the various experimental and help data on reliability: failure rate, probability of failures, the minimal operating time, size FIT. It is marked, that prognosticative estimations MTTF on a basis exponential distribution are overestimated in 70-500 times in comparison with similar estimations on the basis of DN-distribution.
ISSN:1028-9763