Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения
Предлагается метод прогнозирования остаточного ресурса электронных устройств после длительного хранения на основе DN-распределения наработки до отказа. Запропоновано метод прогнозування залишкового ресурсу електронних пристроїв після тривалого зберігання на основі DN-розподілу наробітку до відмови....
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Математичні машини і системи |
|---|---|
| Дата: | 2004 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
2004
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/83936 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения / А.В. Федухин // Мат. машини і системи. — 2004. — № 4. — С. 164-170. — Бібліогр.: 2 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862720207971155968 |
|---|---|
| author | Федухин, А.В. |
| author_facet | Федухин, А.В. |
| citation_txt | Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения / А.В. Федухин // Мат. машини і системи. — 2004. — № 4. — С. 164-170. — Бібліогр.: 2 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Математичні машини і системи |
| description | Предлагается метод прогнозирования остаточного ресурса электронных устройств после длительного хранения на основе DN-распределения наработки до отказа.
Запропоновано метод прогнозування залишкового ресурсу електронних пристроїв після тривалого зберігання на основі DN-розподілу наробітку до відмови.
It is offered the method of residual resource of electronic devices forecasting after long storage on the basis of DN-distribution of MTTF.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:24:14Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-83936 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1028-9763 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T18:24:14Z |
| publishDate | 2004 |
| publisher | Інститут проблем математичних машин і систем НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Федухин, А.В. 2015-06-28T15:01:02Z 2015-06-28T15:01:02Z 2004 Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения / А.В. Федухин // Мат. машини і системи. — 2004. — № 4. — С. 164-170. — Бібліогр.: 2 назв. — рос. 1028-9763 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/83936 621.192 (035) Предлагается метод прогнозирования остаточного ресурса электронных устройств после длительного хранения на основе DN-распределения наработки до отказа. Запропоновано метод прогнозування залишкового ресурсу електронних пристроїв після тривалого зберігання на основі DN-розподілу наробітку до відмови. It is offered the method of residual resource of electronic devices forecasting after long storage on the basis of DN-distribution of MTTF. ru Інститут проблем математичних машин і систем НАН України Математичні машини і системи Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения Прогнозування надійності електронних пристроїв після тривалого зберігання Forecasting of electronic devices reliability after long storage Article published earlier |
| spellingShingle | Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения Федухин, А.В. Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення |
| title | Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения |
| title_alt | Прогнозування надійності електронних пристроїв після тривалого зберігання Forecasting of electronic devices reliability after long storage |
| title_full | Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения |
| title_fullStr | Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения |
| title_full_unstemmed | Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения |
| title_short | Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения |
| title_sort | прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения |
| topic | Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення |
| topic_facet | Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/83936 |
| work_keys_str_mv | AT feduhinav prognozirovanienadežnostiélektronnyhustroistvposledlitelʹnogohraneniâ AT feduhinav prognozuvannânadíinostíelektronnihpristroívpíslâtrivalogozberígannâ AT feduhinav forecastingofelectronicdevicesreliabilityafterlongstorage |