О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники

Представлены оценки средней наработки до отказа (MTTF) изделий электронной техники на основе использования двухпараметрических распределений. Отмечается, что прогнозные оценки MTTF на основе экспоненциального распределения завышены в 50–1500 раз по сравнению с аналогичными оценками на основе дву...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2004
Автори: Стрельников, В.П., Антипенко, К.А.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут проблем математичних машин і систем НАН України 2004
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/83958
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники / В.П. Стрельников, К.А. Антипенко // Мат. машини і системи. — 2004. — № 3. — С. 164-167. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862746535480000512
author Стрельников, В.П.
Антипенко, К.А.
author_facet Стрельников, В.П.
Антипенко, К.А.
citation_txt О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники / В.П. Стрельников, К.А. Антипенко // Мат. машини і системи. — 2004. — № 3. — С. 164-167. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
collection DSpace DC
description Представлены оценки средней наработки до отказа (MTTF) изделий электронной техники на основе использования двухпараметрических распределений. Отмечается, что прогнозные оценки MTTF на основе экспоненциального распределения завышены в 50–1500 раз по сравнению с аналогичными оценками на основе двухпараметрических распределений. Представлені оцінки середнього наробітку до відмови (MTTF) виробів електронної техніки на підставі використання двопараметричних розподілів. Відмічено, що прогнозні оцінки MTTF на підставі експоненційного розподілу завищені у 50–1500 разів у порівнянні з аналогічними оцінками на підставі двопараметричних розподілів. Estimations of an average operating time to refusal (MTTF) of electronic techniques products are submitted on the basе of using of two-parametrical distributions. It is marked, that prognostic estimations MTTF on a basе exponential distributions are overestimated in 50–1500 times in comparison with similar estimations on the base of two-parametrical distributions.
first_indexed 2025-12-07T20:45:54Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-83958
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1028-9763
language Russian
last_indexed 2025-12-07T20:45:54Z
publishDate 2004
publisher Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
record_format dspace
spelling Стрельников, В.П.
Антипенко, К.А.
2015-06-30T11:18:30Z
2015-06-30T11:18:30Z
2004
О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники / В.П. Стрельников, К.А. Антипенко // Мат. машини і системи. — 2004. — № 3. — С. 164-167. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
1028-9763
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/83958
621.192 (035)
Представлены оценки средней наработки до отказа (MTTF) изделий электронной техники на основе использования двухпараметрических распределений. Отмечается, что прогнозные оценки MTTF на основе экспоненциального распределения завышены в 50–1500 раз по сравнению с аналогичными оценками на основе двухпараметрических распределений.
Представлені оцінки середнього наробітку до відмови (MTTF) виробів електронної техніки на підставі використання двопараметричних розподілів. Відмічено, що прогнозні оцінки MTTF на підставі експоненційного розподілу завищені у 50–1500 разів у порівнянні з аналогічними оцінками на підставі двопараметричних розподілів.
Estimations of an average operating time to refusal (MTTF) of electronic techniques products are submitted on the basе of using of two-parametrical distributions. It is marked, that prognostic estimations MTTF on a basе exponential distributions are overestimated in 50–1500 times in comparison with similar estimations on the base of two-parametrical distributions.
ru
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники
Про методичні похибки прогнозування ресурсу високонадійних виробів електронної техніки
About methodical errors of forecasting a resource of highly reliable of electronic techniques products
Article
published earlier
spellingShingle О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники
Стрельников, В.П.
Антипенко, К.А.
Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
title О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники
title_alt Про методичні похибки прогнозування ресурсу високонадійних виробів електронної техніки
About methodical errors of forecasting a resource of highly reliable of electronic techniques products
title_full О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники
title_fullStr О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники
title_full_unstemmed О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники
title_short О методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники
title_sort о методических погрешностях прогнозирования ресурса высоконадежных изделий электронной техники
topic Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
topic_facet Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/83958
work_keys_str_mv AT strelʹnikovvp ometodičeskihpogrešnostâhprognozirovaniâresursavysokonadežnyhizdeliiélektronnoitehniki
AT antipenkoka ometodičeskihpogrešnostâhprognozirovaniâresursavysokonadežnyhizdeliiélektronnoitehniki
AT strelʹnikovvp prometodičnípohibkiprognozuvannâresursuvisokonadíinihvirobívelektronnoítehníki
AT antipenkoka prometodičnípohibkiprognozuvannâresursuvisokonadíinihvirobívelektronnoítehníki
AT strelʹnikovvp aboutmethodicalerrorsofforecastingaresourceofhighlyreliableofelectronictechniquesproducts
AT antipenkoka aboutmethodicalerrorsofforecastingaresourceofhighlyreliableofelectronictechniquesproducts