К вопросу о табулировании функций распределения отказов

Проведена перепараметризация основных строго вероятностных функций распределения отказов: экспоненциального распределения, логарифмически нормального распределения и распределения Вейбулла. Разработаны таблицы функций распределения отказов и примеры их использования для решения некоторых задач по на...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Математичні машини і системи
Datum:2006
ISSN:1028-9763
1. Verfasser: Федухин, А.В.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут проблем математичних машин і систем НАН України 2006
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/83985
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:К вопросу о табулировании функций распределения отказов / А.В. Федухин // Мат. машини і системи. — 2006. — № 2. — С. 147-152. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Проведена перепараметризация основных строго вероятностных функций распределения отказов: экспоненциального распределения, логарифмически нормального распределения и распределения Вейбулла. Разработаны таблицы функций распределения отказов и примеры их использования для решения некоторых задач по надежности. Проведено перепараметризацію основних строго ймовірнісних функцій розподілів відмов: експоненційного розподілу, логарифмічно нормального розподілу, розподілу Вейбулла. Розроблено таблиці функцій розподілів відмов та приклади їх використання для рішення деяких задач з надійності. The reparametrization of the basic strictly probabilistic functions of refusals distribution: exponential distributions, logarithmically normal distribution and distribution Weibull are carried out. Tables of refusals distribution functions and examples of their use for the decision of some tasks on reliability are developed.
ISSN:1028-9763