Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів

Розглянуто існуючі методи діагностики та пошуку несправностей у складних електронних пристроях. Запропоновано метод пошуку несправностей у складних електронних пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає можливість скоротити час на пошук несправного блока, а також локалізувати...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Математичні машини і системи
Datum:2014
1. Verfasser: Нікітенко, Є.В.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут проблем математичних машин і систем НАН України 2014
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84333
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 1. — С. 70-79. — Бібліогр.: 3 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Розглянуто існуючі методи діагностики та пошуку несправностей у складних електронних пристроях. Запропоновано метод пошуку несправностей у складних електронних пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає можливість скоротити час на пошук несправного блока, а також локалізувати зону його пошуку за рахунок урахування зовнішніх факторів. Рассмотрены существующие методы диагностики и поиска неисправностей в сложных электронных устройствах. Предложен метод поиска неисправностей в сложных электронных устройствах с учетом внешних факторов. Разработанный метод дает возможность сократить время на поиск неисправного блока, а также локализовать зону его поиска с учетом внешних факторов. The existing methods of diagnosis and searching failure in high-end technology were examined. Searching method of failure in high-end technology taking into account external factors has been proposed. The developed method makes it possible to reduce the time of searching the faulty unit, as well as to localize its search area taking into account external factors.
ISSN:1028-9763