Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів
Розглянуто існуючі методи діагностики та пошуку несправностей у складних електронних пристроях. Запропоновано метод пошуку несправностей у складних електронних пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає можливість скоротити час на пошук несправного блока, а також локалізувати...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Математичні машини і системи |
|---|---|
| Datum: | 2014 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
2014
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84333 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 1. — С. 70-79. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862578043068874752 |
|---|---|
| author | Нікітенко, Є.В. |
| author_facet | Нікітенко, Є.В. |
| citation_txt | Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 1. — С. 70-79. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Математичні машини і системи |
| description | Розглянуто існуючі методи діагностики та пошуку несправностей у складних електронних пристроях. Запропоновано метод пошуку несправностей у складних електронних пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає можливість скоротити час на пошук несправного блока, а також локалізувати зону його пошуку за рахунок урахування зовнішніх факторів.
Рассмотрены существующие методы диагностики и поиска неисправностей в сложных электронных устройствах. Предложен метод поиска неисправностей в сложных электронных устройствах с учетом внешних факторов. Разработанный метод дает возможность сократить время на поиск неисправного блока, а также локализовать зону его поиска с учетом внешних факторов.
The existing methods of diagnosis and searching failure in high-end technology were examined. Searching method of failure in high-end technology taking into account external factors has been proposed. The developed method makes it possible to reduce the time of searching the faulty unit, as well as to localize its search area taking into account external factors.
|
| first_indexed | 2025-11-26T17:31:07Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-84333 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1028-9763 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-11-26T17:31:07Z |
| publishDate | 2014 |
| publisher | Інститут проблем математичних машин і систем НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Нікітенко, Є.В. 2015-07-06T16:05:20Z 2015-07-06T16:05:20Z 2014 Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 1. — С. 70-79. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. 1028-9763 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84333 004.02 Розглянуто існуючі методи діагностики та пошуку несправностей у складних електронних пристроях. Запропоновано метод пошуку несправностей у складних електронних пристроях з урахуванням зовнішніх факторів. Розроблений метод дає можливість скоротити час на пошук несправного блока, а також локалізувати зону його пошуку за рахунок урахування зовнішніх факторів. Рассмотрены существующие методы диагностики и поиска неисправностей в сложных электронных устройствах. Предложен метод поиска неисправностей в сложных электронных устройствах с учетом внешних факторов. Разработанный метод дает возможность сократить время на поиск неисправного блока, а также локализовать зону его поиска с учетом внешних факторов. The existing methods of diagnosis and searching failure in high-end technology were examined. Searching method of failure in high-end technology taking into account external factors has been proposed. The developed method makes it possible to reduce the time of searching the faulty unit, as well as to localize its search area taking into account external factors. uk Інститут проблем математичних машин і систем НАН України Математичні машини і системи Інформаційні і телекомунікаційні технології Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів Метод поиска неисправностей в сложных электронных устройствах с учетом внешних факторов Searching method of failure in high-end technology taking into account external factors Article published earlier |
| spellingShingle | Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів Нікітенко, Є.В. Інформаційні і телекомунікаційні технології |
| title | Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_alt | Метод поиска неисправностей в сложных электронных устройствах с учетом внешних факторов Searching method of failure in high-end technology taking into account external factors |
| title_full | Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_fullStr | Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_full_unstemmed | Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_short | Метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_sort | метод пошуку несправностей у складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| topic | Інформаційні і телекомунікаційні технології |
| topic_facet | Інформаційні і телекомунікаційні технології |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84333 |
| work_keys_str_mv | AT níkítenkoêv metodpošukunespravnosteiuskladnihelektronnihpriladahzurahuvannâmzovníšníhfaktorív AT níkítenkoêv metodpoiskaneispravnosteivsložnyhélektronnyhustroistvahsučetomvnešnihfaktorov AT níkítenkoêv searchingmethodoffailureinhighendtechnologytakingintoaccountexternalfactors |