Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів
Проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправностей з урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліпшеного методу в порівнянні з базовим. Особливості розробленого методу, який застосовується при діагностиці складних електронних пристроїв, дозв...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Математичні машини і системи |
|---|---|
| Datum: | 2014 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
2014
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84394 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 2. — 151-160. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправностей з урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліпшеного методу в порівнянні з базовим. Особливості розробленого методу, який застосовується при діагностиці складних електронних пристроїв, дозволять швидше знайти несправний блок у схемі.
Проведена экспериментальная проверка разработанного метода поиска неисправностей с учетом внешних факторов. Результаты показали большую эффективность улучшенного метода по сравнению с базовым. Особенности разработанного метода, который применяется при диагностике сложных электронных устройств, позволят быстрее найти неисправный блок в схеме.
The experimental verification of the developed fault finding method taking into account the external factors was conducted. The results showed higher efficiency of improved method compared to the basic approach. Particularities of this method which is used in the diagnosis of complex electronic devices will allow quickly identify the faulty unit in the scheme
|
|---|---|
| ISSN: | 1028-9763 |