Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів

Проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправностей з урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліпшеного методу в порівнянні з базовим. Особливості розробленого методу, який застосовується при діагностиці складних електронних пристроїв, дозв...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Математичні машини і системи
Datum:2014
1. Verfasser: Нікітенко, Є.В.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут проблем математичних машин і систем НАН України 2014
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84394
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 2. — 151-160. — Бібліогр.: 3 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправностей з урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліпшеного методу в порівнянні з базовим. Особливості розробленого методу, який застосовується при діагностиці складних електронних пристроїв, дозволять швидше знайти несправний блок у схемі. Проведена экспериментальная проверка разработанного метода поиска неисправностей с учетом внешних факторов. Результаты показали большую эффективность улучшенного метода по сравнению с базовым. Особенности разработанного метода, который применяется при диагностике сложных электронных устройств, позволят быстрее найти неисправный блок в схеме. The experimental verification of the developed fault finding method taking into account the external factors was conducted. The results showed higher efficiency of improved method compared to the basic approach. Particularities of this method which is used in the diagnosis of complex electronic devices will allow quickly identify the faulty unit in the scheme
ISSN:1028-9763