Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів

Проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправностей з урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліпшеного методу в порівнянні з базовим. Особливості розробленого методу, який застосовується при діагностиці складних електронних пристроїв, дозв...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Математичні машини і системи
Date:2014
Main Author: Нікітенко, Є.В.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут проблем математичних машин і систем НАН України 2014
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84394
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 2. — 151-160. — Бібліогр.: 3 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправностей з урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліпшеного методу в порівнянні з базовим. Особливості розробленого методу, який застосовується при діагностиці складних електронних пристроїв, дозволять швидше знайти несправний блок у схемі. Проведена экспериментальная проверка разработанного метода поиска неисправностей с учетом внешних факторов. Результаты показали большую эффективность улучшенного метода по сравнению с базовым. Особенности разработанного метода, который применяется при диагностике сложных электронных устройств, позволят быстрее найти неисправный блок в схеме. The experimental verification of the developed fault finding method taking into account the external factors was conducted. The results showed higher efficiency of improved method compared to the basic approach. Particularities of this method which is used in the diagnosis of complex electronic devices will allow quickly identify the faulty unit in the scheme
ISSN:1028-9763