Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів
Проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправностей з урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліпшеного методу в порівнянні з базовим. Особливості розробленого методу, який застосовується при діагностиці складних електронних пристроїв, дозв...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Математичні машини і системи |
|---|---|
| Дата: | 2014 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
2014
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84394 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 2. — 151-160. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1859659755313692672 |
|---|---|
| author | Нікітенко, Є.В. |
| author_facet | Нікітенко, Є.В. |
| citation_txt | Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 2. — 151-160. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Математичні машини і системи |
| description | Проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправностей з урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліпшеного методу в порівнянні з базовим. Особливості розробленого методу, який застосовується при діагностиці складних електронних пристроїв, дозволять швидше знайти несправний блок у схемі.
Проведена экспериментальная проверка разработанного метода поиска неисправностей с учетом внешних факторов. Результаты показали большую эффективность улучшенного метода по сравнению с базовым. Особенности разработанного метода, который применяется при диагностике сложных электронных устройств, позволят быстрее найти неисправный блок в схеме.
The experimental verification of the developed fault finding method taking into account the external factors was conducted. The results showed higher efficiency of improved method compared to the basic approach. Particularities of this method which is used in the diagnosis of complex electronic devices will allow quickly identify the faulty unit in the scheme
|
| first_indexed | 2025-11-30T09:22:33Z |
| format | Article |
| fulltext |
© Нікітенко Є.В., 2014 151
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 2
УДК 004.02
Є.В. НІКІТЕНКО*
ОДИН З ПРИКЛАДІВ ВИКОРИСТАННЯ МЕТОДУ ПОШУКУ НЕСПРАВНОСТЕЙ
У СКЛАДНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПРИЛАДАХ З УРАХУВАННЯМ ЗОВНІШНІХ
ФАКТОРІВ
*Чернігівський національний технологічний університет, Чернігів, Україна
Анотація. Проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправностей з
урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліпшеного методу
в порівнянні з базовим. Особливості розробленого методу, який застосовується при діагностиці
складних електронних пристроїв, дозволять швидше знайти несправний блок у схемі.
Ключові слова: діагностика, несправність.
Аннотация. Проведена экспериментальная проверка разработанного метода поиска
неисправностей с учетом внешних факторов. Результаты показали большую эффективность
улучшенного метода по сравнению с базовым. Особенности разработанного метода, который
применяется при диагностике сложных электронных устройств, позволят быстрее найти
неисправный блок в схеме.
Ключевые слова: диагностика, неисправность.
Abstract. The experimental verification of the developed fault finding method taking into account the
external factors was conducted. The results showed higher efficiency of improved method compared to the
basic approach. Particularities of this method which is used in the diagnosis of complex electronic devices
will allow quickly identify the faulty unit in the scheme.
Keywords: diagnostics, fault.
1. Вступ
Контроль, діагностику і налаштування радіоелектронної апаратури проводять програмни-
ми та апаратними методами. Підприємствами розробляються спеціальні інструкції для ко-
ристувачів і діагностичні програми, що додаються до виробів у вигляді технічного опису,
вбудованого програмного забезпечення або спеціальних програм на носіях інформації. Їх
можна умовно поділити на дві групи: POST (Power-On Self Test – програма самоперевірки
при включенні) та спеціалізовані діагностичні програми [1]. Складність програм та їх по-
тенційні можливості на кожному наступному рівні, як правило, зростають.
Програми POST представляють собою послідовність коротких програм, які знахо-
дяться в ПЗУ, призначені для перевірки основних компонентів системи безпосередньо піс-
ля її включення і запускаються при включенні системи. Зазвичай перевіряються централь-
ний процесор, ПЗУ, системні плати, оперативна пам'ять і основні периферійні пристрої. Ці
тести виконуються швидко і не надто ретельно в порівнянні з діагностичними програмами,
записаними на дисках. Якщо при виконанні програми POST виявляється несправний ком-
понент системи, то видається повідомлення про помилку або попереджувальний сигнал.
Якщо несправність досить серйозна ("фатальна помилка"), то подальше завантаження сис-
теми припиняється і видається повідомлення, за яким можна визначити причину несправ-
ності.
Спеціалізовані діагностичні програми – це набори тестів для повної перевірки всіх
компонентів систем і складних приладів, які записуються на окремому діагностичному
диску. Діагностичні програми передбачені двох рівнів. Перший рівень – це загальна діаг-
ностика, яка орієнтована на користувачів. Так як процедури пошуку несправностей у бі-
льшості сучасних систем досить прості, у користувачів зазвичай не виникає труднощів при
роботі з програмами загальної діагностики. Другий рівень – технічний, він розрахований
152 ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 2
на фахівців. Повідомлення про помилки виводяться у вигляді кодів, за якими можна ви-
значити причину несправності або звузити коло її пошуків.
2. Аналіз досліджень і публікацій
Метод, описаний в роботі [2], спрямований на пошук несправностей для складних елект-
ронних пристроїв. Цей метод дає можливість скоротити час на пошук несправного блока, а
також локалізувати зону його пошуку за рахунок урахування зовнішніх факторів. Розгля-
немо роботу методу на прикладі складного електронного пристрою. Як такий візьмемо но-
утбук Sony з материнською платою m750 [3] (рис. 1).
Рис. 1. Схема з'єднання блоків плати Sony m750
Схема, що зображена на рис. 1, досить просто може бути представлена у вигляді
функціональних логічних елементів. Більшість із елементів плати мають один вхід та один
вихід.
3. Опис схеми у вигляді функціонально-логічних блоків
Опишемо ноутбук у системі пошуку несправностей, вказуючи внутрішні зв'язки і зв'язки
між блоками. Будемо вважати, що всі лінії зв'язку справні, тому не виділяємо їх в окремі
функціональні елементи (рис. 2).
Розглянемо для прикладу такий сценарій: ми отримуємо дані по витій парі, які пе-
редаються в ноутбук через порт RJ45. Отримані дані повинні пройти обробку і передавати-
ся далі на зовнішній екран через порт DVI. Вважаємо, що інформація точно приходить і
що пристрій, підключений до порту DVI, справний. Ми можемо спостерігати тільки за
станом входу і виходу. Про справність або несправність інших виходів ми нічого не знає-
мо. Якщо за якими-то причинами ми перестали отримувати сигнал на виході порту DVI,
приймаємо це за несправність.
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 2 153
Рис. 2. Представлення материнської плати у вигляді функціонально-логічних блоків
(спостерігається один вихід)
Рис. 4. Меню зазначення даних
про зовнішні фактори
Рис. 3. Меню вказівки несправних виходів
Для того, щоб знайти
список елементів, які необ-
хідно перевірити при появі
несправності на виході пор-
ту DVI, активуємо кнопку
"Calculate". Нам пропонуєть-
ся вказати виходи, на яких
спостерігається несправність. Так як ми кон-
тролюємо тільки вихід OUT1, то вказуємо
тільки його (рис. 3).
Вже на наступному кроці ми отримує-
мо набір виводів, які необхідно перевірити.
Для кожного з них необхідно вказати дані
про температуру і вологість, а саме: допусти-
мий мінімум і максимум, а також середнє
значення під час експлуатації (рис. 4).
На даному етапі необхідно, по можли-
вості, якомога точніше і повною мірою вказа-
ти дані про виводи функціональних блоків.
Нам потрібно знати інформацію, яка взята з
технічної документації кожного блока тільки
для певних виводів, а не абсолютно всіх у
пристрої.
Представимо дані про зовнішні факто-
ри у вигляді табл. 1 і 2.
Нехай ми знаємо, що ноутбук викори-
стовувався при температурі -5 °C і відносній
154 ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 2
вологості повітря 50%.
Таблиця 1. Дані про температуру для певних виводів
№
п/п
Ім’я блока
Мінімальна
границя
температури, °C
Максимальна
границя
температури, °C
Середнє зна-
чення темпера-
тури, °C
1 RJ45 y1 -25 125 -5
2 Netswap NS681601P y1 0 70 -5
3 M88E8040 y1 10 115 -5
4 Winbond
WPCE775L y1
-10 100 -5
5 South Bridge
ICH9-M y1
0 95 -5
6 North Bridge
GM45/PM45 y1
0 100 -5
7 North Bridge
GM45/PM45 y2
0 100 -5
8 AMD
M82SCE XT y1
0 60 -5
9 DVI y1 -40 85 -5
Таблиця 2. Дані про вологість для певних виводів
№
п/п
Ім’я блока
Мінімальна
границя
вологості, %
Максимальна
границя
вологості, %
Середнє
значення
вологості, %
1 RJ45 y1 0 100 50
2 Netswap NS681601P y1 0 80 50
3 M88E8040 y1 0 90 50
4 Winbond
WPCE775L y1
0 75 50
5 South Bridge
ICH9-M y1
0 80 50
6 North Bridge
GM45/PM45 y1
0 80 50
7 North Bridge
GM45/PM45 y2
0 80 50
8 AMD
M82SCE XT y1
0 90 50
9 DVI y1 0 100 50
У табл. 1 з даними про температуру бачимо, що були порушені умови експлуатації
шести елементів, так як -5 °C не входить у діапазон допустимих для цих компонентів тем-
ператур. Значення відносної вологості для всіх компонентів знаходяться в межах норми
(табл. 2).
У табл. 1 у колонці, де зазначено середнє значення температури експлуатації, у всіх
рядках одне і те ж число. Материнська плата ноутбука представляє собою один пристрій:
усі компоненти, що знаходяться на ній, перебувають в однакових температурних умовах.
Значення в цій колонці можуть відрізнятися, якщо елементи пристрою перебували в різних
умовах експлуатації. Таке може бути, наприклад, в системі вимірювання температури на
підприємстві, коли різні датчики експлуатуються в різних температурних умовах.
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 2 155
Рис. 5. Результат роботи методу
4. Результат роботи методу
Провівши коригування ваг, ми отримаємо кінцевий результат, в якому зазначені остаточні
ваги. Слідуючи значенням ваг, отримуємо порядок, в якому необхідно перевіряти функці-
ональні блоки у пристрої (рис. 5).
У результаті в самій
правій колонці таблиці на
рис. 5 бачимо значення ваг,
які визначають порядок пе-
ревірки елементів у при-
строї. У першу чергу пови-
нен бути перевірений
Netswap y1, так як значення
ваги цього елемента має
найбільше значення, а саме
27.62. Якби ми не врахову-
вали в розрахунках інфор-
мацію про зовнішні фактори
(базовий алгоритм), то еле-
мент Netswap y1 повинен
бути перевіреним другим.
Розглянемо ще ситуацію з RJ45. У базовому алгоритмі він повинен бути перевіре-
ний першим, але так, як він експлуатувався згідно з його технічними характеристиками, то
і перевіряти його варто тільки після тих елементів, чиї умови експлуатації не дотримува-
лися, тому що ймовірність виходу з ладу таких блоків вища.
До цього ми розглядали випадок, коли спостерігався тільки один вхід і один вихід, в
результаті чого ми отримали дев’ять елементів, які слід перевірити.
Розглянемо випадок, коли ми знаємо дані про стан інших виходів пристрою. Нехай
на екрані ноутбука є зображення, тобто відображаються коректні дані. Екран ноутбука
представлений виходом RGB. А на виході DVI також спостерігаємо відсутність сигналу.
Додамо на схему ще один вихід типу OUT, який показує стан даних на виході блока RGB
(рис. 6).
Рис. 6. Представлення пристрою у вигляді функціонально-логічних блоків
(спостерігаються два виходи)
156 ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 2
Рис. 7. Результат роботи методу (спостерігалося два виходи пристрою)
На наступному етапі, коли буде запропоновано вказати несправні блоки, ми вкаже-
мо тільки вихід OUT1, а OUT2 відзначимо як справний. У результаті ми отримаємо значно
меншу кількість виводів, які необхідно перевіряти, а саме три, які представлені в табл. 3.
Таблиця 3. Елементи, які слід перевірити
№п/п Назва блока
1 North Bridge y2
2 AMD M82SCE XT y4
3 DVI y1
як для нього вони виглядають як елементи одного рівня. Метод з урахуванням зовнішніх
факторів (поліпше-
ний метод) успішно
вирішує цю проблему
і визначає однознач-
ний порядок перевір-
ки елементів. Чим
більше вказали даних
про стан пристрою,
тим ефективніше
спрацював метод,
тим менше елементів
потрібно перевіряти,
що прискорює пошук
несправного блока.
Ми розгляну-
ли весь цикл пошуку списку елементів, що підлягають перевірці при появі несправності на
виході DVI ноутбука Sony. У даному випадку використовувалося два зовнішніх фактори:
вологість і температура навколишнього середовища, при яких використовувався ноутбук.
5. Порівняння базового та поліпшеного методів
Проведемо порівняння базового та поліпшеного методів при різних умовах і вхідних да-
них. Для цього в систему, що реалізовує поліпшений метод, була додана функціональність,
яка дозволяє генерувати випадкові схеми функціонально-логічних блоків. Можна було б
цей етап провести і шляхом ручного завдання схем, але це вимагало дуже багато часу.
Був програмно реалізований алгоритм, що генерує схеми функціонально-логічних
елементів відповідно до вказаних вхідних параметрів, а саме:
– кількість функціонально-логічних елементів у схемі;
– максимальна кількість входів функціонально-логічного елемента;
– мінімальна кількість входів функціонально-логічного елемента;
– максимальна кількість виходів функціонально-логічного елемента;
– мінімальна кількість виходів функціонально-логічного елемента;
– максимальна кількість контактів, до яких може бути приєднаний один вихідний
контакт функціонально-логічного елемента;
– максимальна кількість підконтрольних вхідних елементів (тип IN);
– максимальна кількість підконтрольних вихідних елементів (тип OUT).
Далі представлений основний код класу, який генерує схеми пристроїв за вказани-
ми параметрами.
Вкажемо дані про зовнішні фактори і
отримаємо кінцевий порядок перевірки для
цих елементів (рис. 7).
Варто звернути увагу на те, що базовий
метод виводам North Bridge y2 і AMD
M82SCE XT y4 присвоїв однакову вагу, так
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 2 157
public class RandomSchemaGenerator {
private int COUNT_OF_NODES = 40;
private int MAX_COUNT_INPUT = 5;
private int MAX_COUNT_OUTPUT = 4;
private int MAX_EXTERNAL_CONNECTIONS = 1;
private int COUNT_NODES_TO_INPUTS = 4;
private int COUNT_NODES_TO_OUTPUTS = 4;
private Random randomGeneretor = new Random(System.currentTimeMillis());
public void generateNodes() {
List<Node> nodes = new ArrayList<Node>();
List<Node> nodesToInputs = new ArrayList<Node>();
List<Node> nodesToOutputs = new ArrayList<Node>();
for (int k = 0; k < COUNT_OF_NODES; k++) {
int countInputs = randomGeneretor.nextInt(MAX_COUNT_INPUT) + 1;
int countOutputs = randomGeneretor.nextInt(MAX_COUNT_OUTPUT) + 1;
List<ContactDB> contacts = new ArrayList<ContactDB>();
ContactDB tmp = null;
for (int i = 1; i <= countInputs; i++) {
tmp = new ContactDB("x" + i, true, i);
contacts.add(tmp);
DBManager.getInstance().saveContact(tmp);
}
for (int i = 1; i <= countOutputs; i++) {
tmp = new ContactDB("y" + i, false, i);
contacts.add(tmp);
DBManager.getInstance().saveContact(tmp);
}
Node n = new Node(PositionCounter.getNextPosition(), 55,
countInputs, countOutputs, Kind.TYPICAL);
n.name = "Node " + PositionCounter.getNextNumber();
DBManager.getInstance().saveNode(n);
n.contacts.addAll(contacts);
DBManager.getInstance().updateNodeCotacts(n);
List<ContactDB> inputs = n.getAllInputs();
List<ContactDB> outputs = n.getAllOutputs();
for (ContactDB c : inputs) {
int contactConnections =
randomGeneretor.nextInt(outputs.size()) + 1;
Set<Integer> connectTo =
getCountRandomNumbersInRange(contactConnections, outputs.size());
for (Integer contNumber : connectTo) {
ContactDB toDB = outputs.get(contNumber);
DBManager.getInstance().saveLink(new Edge(n, n, c,
toDB));
}
}
nodes.add(n);
if (k < COUNT_NODES_TO_INPUTS) {
nodesToInputs.add(n);
}
if (k > COUNT_OF_NODES - COUNT_NODES_TO_OUTPUTS) {
nodesToOutputs.add(n);
}
}
List<ContactDB> outputs;
List<ContactDB> inputs;
for (Node n : nodes) {
if (nodesToOutputs.contains(n)) {
List<ContactDB> connectOutType = n.getAllOutputs();
for (ContactDB toOutType : connectOutType) {
Node outNode = generateInOutNode(false);
DBManager.getInstance().saveLink(new Edge(n, outNode,
toOutType, outNode.getAllInputs().get(0)));
}
continue;
}else if(nodesToInputs.contains(n)){
158 ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 2
List<ContactDB> connectInType = n.getAllInputs();
for (ContactDB toInContact : connectInType) {
Node inNode = generateInOutNode(true);
DBManager.getInstance().saveLink(new Edge(inNode, n,
inNode.getAllOutputs().get(0), toInContact));
}
}
outputs = n.getAllOutputs();
for (ContactDB out : outputs) {
for (int t = 0; t < MAX_EXTERNAL_CONNECTIONS; t++) {
boolean isFind = false;
Node toN = null;
while (!isFind) {
int numb =
randomGeneretor.nextInt(nodes.size());
toN = nodes.get(numb);
if (!toN.id.equals(n.id) &&
!nodesToInputs.contains(toN)) {
isFind = true;
}
}
inputs = toN.getAllInputs();
int inputNumber =
randomGeneretor.nextInt(inputs.size());
DBManager.getInstance().saveLink(new Edge(n, toN, out,
inputs.get(inputNumber)));
}
}
}
}
private Set<Integer> getCountRandomNumbersInRange(int count, int max) {
Set<Integer> rez = new HashSet<Integer>();
while (rez.size() < count) {
rez.add(randomGeneretor.nextInt(max));
}
return rez;
}
private Node generateInOutNode(boolean isIn) {
Node node;
if (isIn) {
node = new Node(PositionCounter.getNextPosition(), 55, 1, 1,
Kind.IN);
node.name = "IN " + PositionCounter.getNextIn();
} else {
node = new Node(PositionCounter.getNextPosition(), 55, 1, 1,
Kind.OUT);
node.name = "OUT " + PositionCounter.getNextOut();
}
ContactDB in = new ContactDB("x1", true, 1);
ContactDB out = new ContactDB("y1", false, 1);
DBManager.getInstance().saveNode(node);
DBManager.getInstance().saveContact(in);
DBManager.getInstance().saveContact(out);
node.contacts.add(in);
node.contacts.add(out);
DBManager.getInstance().updateNodeCotacts(node);
return node;
}
}
Була проведена генерація схем при різній кількості блоків і різних даних про зовні-
шні фактори. Для кожного випадку було зроблено 20 експериментальних запусків системи.
Цієї кількості цілком достатньо для визначення точного значення результату по відношен-
ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 2 159
Рис. 8. Залежність кількості елементів, які необхідно перевірити
для виявлення несправного (дані про зовнішні фактори відсутні)
Рис. 9. Залежність кількості елементів, які необхідно перевірити
для виявлення несправного (дані про зовнішні фактори відомі тільки
для половини елементів)
ню до поставлених нами умов. На графіках зображено середнє значення, отримане за цими
експериментами.
Основною метою є визначення, наскільки швидше поліпшений метод дозволяє
знайти несправний блок у схемі. При генерації схеми функціонально-логічних елементів
кожному блоку присвоюється порядковий номер.
Будемо вважати, що у пристрої вийшов з ладу один елемент. Для всіх експеримен-
тів повинні бути рівні умови, тому за несправний блок приймаємо той, що знаходиться по-
середині схеми. Наприклад, якщо в генерованому пристрої 50 блоків, то несправний мати-
ме номер 25, якщо 100, то 50-й, якщо 200, то 100-й.
Графік на рис.
8 показує, що кіль-
кість елементів, які
необхідно перевірити
до виявлення не-
справного, абсолютно
збігається для базово-
го методу і методу з
урахуванням зовніш-
ніх факторів, при
умові, що використо-
вується поліпшений
метод, але дані про
зовнішні фактори від-
сутні. Так як дані про
температуру і воло-
гість невідомі, то і ва-
ги не змінюються від-
носно тих, що визна-
чені базовим алгорит-
мом. Так само важли-
вим результатом, який
бачимо на цьому гра-
фіку, є те, що навіть за
відсутності необхідної
інформації поліпше-
ний метод не погіршує
результат, отриманий
від базового методу.
Графік на рис.
9 показує зменшення
кількості елементів у
методі з урахуванням
зовнішніх факторів,
які необхідно переві-
рити до того, як дійдемо до несправного елемента. Після нескладних підрахунків відзна-
чимо, що поліпшений метод швидше виявить несправний елемент у порівнянні з базовим
на 11,3%.
На рис. 10 показаний графік залежності елементів, які необхідно перевірити до ви-
явлення несправності, від кількості елементів в електронному пристрої. Це найбільш ефек-
тивні умови роботи поліпшеного методу, так як присутні всі необхідні дані про зовнішні
160 ISSN 1028-9763. Математичні машини і системи, 2014, № 2
Рис. 10. Залежність кількості елементів, які необхідно перевірити
для виявлення несправного (дані про зовнішні фактори відомі
для всіх елементів)
Рис. 11. Залежність кількості елементів, які необхідно перевірити
для виявлення несправного (умови експлуатації всіх блоків
у пристрої – порушені)
фактори. Метод показав
зменшення часу пошуку
несправного блока в по-
рівнянні з базовим мето-
дом на 18%.
Розглянемо один
із приграничних випадків
при пошуку несправного
елемента, коли середні
значення всіх факторів
виходять за їхні межі
(рис. 11). Таке може бути
при грубому порушенні
умов експлуатації елект-
ронного пристрою. У
цьому випадку метод з
урахуванням зовнішніх
факторів змінить значен-
ня ваг всіх елементів, але
всі вони збільшаться на
одне і те ж число (кіль-
кість елементів, які під-
лягають перевірці), що
ніяким чином не змінює
порядок перевірки блоків
при виявленні несправ-
ності на одному з вихо-
дів. Тому в цьому випад-
ку поліпшений алгоритм
показує такі ж результа-
ти, як і базовий.
6. Висновки
У роботі проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправно-
стей з урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліп-
шеного методу в порівнянні з базовим. Викладені особливості розроблених діагностичних
методів, які застосовуються при діагностиці складних електронних пристроїв, дозволять
швидше знайти несправний блок у схемі.
На закінчення слід підкреслити, що розробка нових методів для діагностики сучас-
ної апаратури є актуальним і соціально значимим завданням сучасного приладобудування.
СПИСОК ЛІТЕРАТУРИ
1. Глушков С.В. Персональный компьютер: учебный курс / С.В. Глушков, И.В. Мельников. – М.:
«АСТ», 2000. – 512 с.
2. Метод пошуку несправностей в складних електронних приладах з урахуванням зовнішніх фак-
торів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. – 2014. – № 1. – С. 70 – 79.
3. M750 Main Board [Електронний ресурс]. – Режим доступу: http://zremcom.ru/scheme/scheme-
sony/file/754-scheme-sony-m751pvtmb0627vgn-sr55e-m754h-mbx-190.
Стаття надійшла до редакції 07.02.2014
|
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-84394 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1028-9763 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-11-30T09:22:33Z |
| publishDate | 2014 |
| publisher | Інститут проблем математичних машин і систем НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Нікітенко, Є.В. 2015-07-06T19:43:44Z 2015-07-06T19:43:44Z 2014 Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів / Є.В. Нікітенко // Математичні машини і системи. — 2014. — № 2. — 151-160. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. 1028-9763 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84394 004.02 Проведено експериментальну перевірку розробленого методу пошуку несправностей з урахуванням зовнішніх факторів. Результати показали більшу ефективність поліпшеного методу в порівнянні з базовим. Особливості розробленого методу, який застосовується при діагностиці складних електронних пристроїв, дозволять швидше знайти несправний блок у схемі. Проведена экспериментальная проверка разработанного метода поиска неисправностей с учетом внешних факторов. Результаты показали большую эффективность улучшенного метода по сравнению с базовым. Особенности разработанного метода, который применяется при диагностике сложных электронных устройств, позволят быстрее найти неисправный блок в схеме. The experimental verification of the developed fault finding method taking into account the external factors was conducted. The results showed higher efficiency of improved method compared to the basic approach. Particularities of this method which is used in the diagnosis of complex electronic devices will allow quickly identify the faulty unit in the scheme uk Інститут проблем математичних машин і систем НАН України Математичні машини і системи Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів One of the examples of using of the fault finding method in complex devices taking into account external factors Article published earlier |
| spellingShingle | Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів Нікітенко, Є.В. Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення |
| title | Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_alt | One of the examples of using of the fault finding method in complex devices taking into account external factors |
| title_full | Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_fullStr | Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_full_unstemmed | Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_short | Один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| title_sort | один із прикладів використання методу пошуку несправностей у складних приладах з урахуванням зовнішніх факторів |
| topic | Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення |
| topic_facet | Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/84394 |
| work_keys_str_mv | AT níkítenkoêv odinízprikladívvikoristannâmetodupošukunespravnosteiuskladnihpriladahzurahuvannâmzovníšníhfaktorív AT níkítenkoêv oneoftheexamplesofusingofthefaultfindingmethodincomplexdevicestakingintoaccountexternalfactors |