Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images
A new method of experimental determination of the amplitude contrast value of electron-microscopic images for amorphous materials is suggested. The mathematical relations for calculating the contributions of different mechanisms of electron scattering by the object under study to the contrast on the...
Saved in:
| Published in: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
|---|---|
| Date: | 2015 |
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2015
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/87980 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images / M.Yu. Bobyk, V.P. Ivanitsky, M.M. Ryaboshchuk, O.Ya. Svatyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2015. — Т. 13, № 1. — С. 85–97. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-87980 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Bobyk, M.Yu. Ivanitsky, V.P. Ryaboshchuk, M.M. Svatyuk, O.Ya. 2015-11-05T18:54:30Z 2015-11-05T18:54:30Z 2015 Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images / M.Yu. Bobyk, V.P. Ivanitsky, M.M. Ryaboshchuk, O.Ya. Svatyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2015. — Т. 13, № 1. — С. 85–97. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. 1816-5230 PACS numbers: 07.78.+s, 61.05.J-, 61.05.jd, 61.43.Dq, 68.37.Lp, 68.55.jd, 87.64.Ee https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/87980 A new method of experimental determination of the amplitude contrast value of electron-microscopic images for amorphous materials is suggested. The mathematical relations for calculating the contributions of different mechanisms of electron scattering by the object under study to the contrast on the basis of the relevant electron-diffraction patterns are obtained. The shares of contribution of elastically coherently, elastically incoherently, and inelastically scattered electrons to the contrast are determined experimentally for the amorphous As40Se60 films. Запропоновано новий метод експериментального визначення амплітуди контрастного значення електронно-мікроскопічних зображень для аморфних матеріалів. Були одержані математичні співвідношення для розрахунку внесків різних механізмів розсіювання електронів на досліджуваному об’єкті в контраст на основі відповідних електронограм. Для аморфних плівок As40Se60 були знайдені експериментально частки внесків пружньо когерентно, пружньо некогерентно та непружньо розсіяних електронів у контраст. Предложен новый метод экспериментального определения амплитуды контрастного значения электронно-микроскопических изображений для аморфных материалов. Были получены математические соотношения для расчёта вкладов различных механизмов рассеяния электронов на изучаемом объекте в контраст на основе соответствующих электронограмм. Для аморфных плёнок As40Se60 были найдены экспериментально доли вкладов упруго когерентно, упруго некогерентно и неупруго рассеянных электронов в контраст. en Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images |
| spellingShingle |
Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images Bobyk, M.Yu. Ivanitsky, V.P. Ryaboshchuk, M.M. Svatyuk, O.Ya. |
| title_short |
Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images |
| title_full |
Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images |
| title_fullStr |
Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images |
| title_full_unstemmed |
Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images |
| title_sort |
different electron-scattering mechanisms’ contribution to the formation of the amplitude contrast of electron-microscopic images |
| author |
Bobyk, M.Yu. Ivanitsky, V.P. Ryaboshchuk, M.M. Svatyuk, O.Ya. |
| author_facet |
Bobyk, M.Yu. Ivanitsky, V.P. Ryaboshchuk, M.M. Svatyuk, O.Ya. |
| publishDate |
2015 |
| language |
English |
| container_title |
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
| publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| format |
Article |
| description |
A new method of experimental determination of the amplitude contrast value of electron-microscopic images for amorphous materials is suggested. The mathematical relations for calculating the contributions of different mechanisms of electron scattering by the object under study to the contrast on the basis of the relevant electron-diffraction patterns are obtained. The shares of contribution of elastically coherently, elastically incoherently, and inelastically scattered electrons to the contrast are determined experimentally for the amorphous As40Se60 films.
Запропоновано новий метод експериментального визначення амплітуди контрастного значення електронно-мікроскопічних зображень для аморфних матеріалів. Були одержані математичні співвідношення для розрахунку внесків різних механізмів розсіювання електронів на досліджуваному об’єкті в контраст на основі відповідних електронограм. Для аморфних плівок As40Se60 були знайдені експериментально частки внесків пружньо когерентно, пружньо некогерентно та непружньо розсіяних електронів у контраст.
Предложен новый метод экспериментального определения амплитуды контрастного значения электронно-микроскопических изображений для аморфных материалов. Были получены математические соотношения для расчёта вкладов различных механизмов рассеяния электронов на изучаемом объекте в контраст на основе соответствующих электронограмм. Для аморфных плёнок As40Se60 были найдены экспериментально доли вкладов упруго когерентно, упруго некогерентно и неупруго рассеянных электронов в контраст.
|
| issn |
1816-5230 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/87980 |
| citation_txt |
Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images / M.Yu. Bobyk, V.P. Ivanitsky, M.M. Ryaboshchuk, O.Ya. Svatyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2015. — Т. 13, № 1. — С. 85–97. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT bobykmyu differentelectronscatteringmechanismscontributiontotheformationoftheamplitudecontrastofelectronmicroscopicimages AT ivanitskyvp differentelectronscatteringmechanismscontributiontotheformationoftheamplitudecontrastofelectronmicroscopicimages AT ryaboshchukmm differentelectronscatteringmechanismscontributiontotheformationoftheamplitudecontrastofelectronmicroscopicimages AT svatyukoya differentelectronscatteringmechanismscontributiontotheformationoftheamplitudecontrastofelectronmicroscopicimages |
| first_indexed |
2025-12-07T17:47:35Z |
| last_indexed |
2025-12-07T17:47:35Z |
| _version_ |
1850872593161125888 |