Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images

• Veröffentlicht in: Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
• Datum: 2015
• Hauptverfasser: Bobyk, M.Yu., Ivanitsky, V.P., Ryaboshchuk, M.M., Svatyuk, O.Ya.
• Format: Artikel
• Sprache: Englisch
• Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2015
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/87980
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images / M.Yu. Bobyk, V.P. Ivanitsky, M.M. Ryaboshchuk, O.Ya. Svatyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2015. — Т. 13, № 1. — С. 85–97. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.

A new method of experimental determination of the amplitude contrast value of electron-microscopic images for amorphous materials is suggested. The mathematical relations for calculating the contributions of different mechanisms of electron scattering by the object under study to the contrast on the...