Лизунов, В., Кочелаб, Е., Скакунова, Е., Лень, Е., Молодкин, В., Олиховский, С., . . . Скапа, Л. (2015). Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. I. Теоретическая модель. Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Лизунов, В.В, et al. "Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. I. Теоретическая модель." Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології 2015.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Лизунов, В.В, et al. "Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. I. Теоретическая модель." Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2015.