Bizyukov, A., Bizyukov, I., Girka, O., Sereda, K., Sleptsov, V., Gutkin, M., & Mishin, S. (2011). Ion beam system for nanotrimming of functional microelectronics layers. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationBizyukov, A.A, I.A Bizyukov, O.I Girka, K.N Sereda, V.V Sleptsov, M. Gutkin, and S. Mishin. Ion Beam System for Nanotrimming of Functional Microelectronics Layers. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2011.
MLA (8th ed.) CitationBizyukov, A.A, et al. Ion Beam System for Nanotrimming of Functional Microelectronics Layers. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2011.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.